OTSUKA大塚电子亮相钙钛矿峰会｜两大核心设备助力产业创新

OTSUKA大塚电子亮相钙钛矿峰会｜两大核心设备助力产业创新

7月2日-3日，备受行业瞩目的《2026焦耳时代钙钛矿技术创新与产业链生态峰会》满落幕。本次峰会汇聚200余位产业精英，其中 CTO、资深科学家、企业研发负责人占比超65%，聚焦钙钛矿技术研发、量产落地、产业链协同等核心议题，搭建起产学研用深度交流的平台。

本次峰会，面向钙钛矿领域核心从业者，展示适配行业全流程检测的精密仪器解决方案，助力大塚电子在钙钛矿检测赛道的品牌推广，为产业高质量发展注入技术动能

本次峰会现场，大塚电子携两款明星设备重磅登场，精准覆盖钙钛矿薄膜检测、纳米材料表征两大核心环节，凭借精准、高效、稳定的性能，获得现场嘉宾的广泛关注与认可。

钙钛矿电池的光电转换效率与器件稳定性，与薄膜均匀度、层厚精度密切相关，微区膜层的细微差异都可能影响最终产品性能。OPTM 显微分光膜厚仪采用非接触无损检测模式，凭借微米级微区光斑，可精准定位钙钛矿薄膜、传输层、钝化层的局部点位，快速完成单层或多层复合膜的厚度、折射率、消光系数等参数测量。

适配实验室配方研发、中试产线批量抽检等多种场景，为钙钛矿成膜工艺优化提供量化数据支撑，是钙钛矿器件研发阶段的标配光学检测设备，助力企业快速优化工艺、提升研发效率。

钙钛矿前驱体溶液、量子点、纳米添加剂的粒径分布、Zeta 电位，直接决定材料的分散稳定性与薄膜结晶质量，是影响钙钛矿电池良率的关键因素。ELSZ 纳米粒度 zeta 电位分析仪可精准表征纳米级粉体、胶体的粒径大小及分布、带电特性，快速评估前驱体溶液配方的稳定性，提前规避材料团聚、相分离等量产过程中常见的缺陷。

通过该设备的检测数据，企业可针对性优化前驱体制备工艺，有效提升钙钛矿电池的良率与长期稳定性，为规模化量产筑牢质量基础

本次峰会参会嘉宾均为钙钛矿领域的技术核心人员，围绕钙钛矿叠层电池、柔性器件、量产质控、检测标准等行业共性难点，分享设备应用案例与检测解决方案。