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更新时间:2026-08-24
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SSD西西蒂 Eliminostat CABS 系列离子风棒应用场景:
CABS:分体式 HDC‑AC 离子风棒(控制器与棒体分离),对标 CABX(电源内置一体化);主打1030mm 以内短尺寸、狭小腔体、机台内部安装,最大亮点是检测功能比 CABX 更丰富。
分体结构,棒体极薄小巧棒电极无内置高压模块,体积小,适合嵌入设备腔体、AOI、检测机、手套箱、小型工装内部;高压单元外置独立控制器 CABS‑CTRCB,散热好,高压线缆短,布线灵活;整机 DC24V 低压输入。
HDC‑AC 脉冲电离技术
离子平衡 ≤±30V;低臭氧;近距离(50‑300mm)除静电效率高;放电针磨损低,维护周期长。
喷嘴可选 HW 大流量 / LW 低流量,可现场更换,兼顾除电性能与耗气量控制。
放电针可选硅针(低微粒),适配半导体、光学洁净制程。
晶圆检测 Sorter、离线目检腔体内部晶圆、芯片在检测腔内部,消除静电,防止颗粒吸附到裸片;硅针版本低微粒析出,适配黄光洁净腔体。
EFEM 小型腔体、FOUP 小门内部、预对准工位狭小设备内部空间,棒体薄,可埋入机台;放电针松动 / 脱落可以报警,无人值守机台很关键。
Mini‑LED、Micro‑LED 检测、摆盘、固晶前工位防止芯片被静电吸附移位、静电击穿;ChargeSNS 带电物体感应,工件到来可触发吹气联动。
封装载带、Tape‑Reel 封装机内部载带静电吸附元器件,嵌入设备腔体做除静电除尘。
镜头模组组装机、调焦机腔体内部镜片、CMOS 传感器静电吸附灰尘,造成黑点不良;设备厂商直接集成在设备内部。
光学玻璃、薄膜小片试样检测工位小尺寸基板,机台密闭腔体内除静电;低臭氧,避免光学元件氧化损伤。
AOI 光学检测机内部检测前消除工件静电,减少静电吸附异物带来的误判。
小型 PCB、FPC 软板的检测、分拣工位设备内部狭小空间,短距离除静电,消除吸附粉尘。
连接器、精密塑胶小件自动化组装机内部塑胶件静电吸附碎屑,嵌入工装内部做除静电除尘;HW 大流量喷嘴兼顾吹扫除尘;LW 低流量喷嘴适合怕强气流偏移的微小零件。
