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更新时间:2026-08-27
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超微测量力 0.5μN:可以直接测量光刻胶、PI 聚酰亚胺等软质薄膜,不会压坏样品表面,这是小坂 ET 系列一大强项ryokosha.c...。
直动式检出器:探针垂直直线运动,消除传统杠杆式摆动带来的角度系统误差,纳米台阶测量更稳定。
CCD 可视定位:肉眼屏幕直接看到探针针尖,对准台阶边缘。
软件 i‑STAR31 功能:台阶高度、膜厚、粗糙度、波纹度、沟槽轮廓、薄膜应力计算;支持宏程序自动批量测量;输出 ISO/JIS 参数;支持 CSV 导出数据。
探针耗材:金刚石触针;标配 R2μm;可选R0.5μm 针尖(微小图形),属于定期消耗件,需要更换。
