HITACHI日立紫外可见近红外分光光度计日立高性能的棱镜-光栅双单色器系统可实现低杂散光和低偏振
紫外/可见/近红外分光光度计 UH4150
平行光束可实现反射光和散射光的精确测定

HITACHI日立是一家全球性的日立公司，通过互联材料分析解决方案帮助我们的客户变得更加成功和可持续，这些解决方案使生产和开发过程更加高效、自动化和绿色，以确保产品质量、可靠性和合规性。我们提供实验室级和强大高性能现场检测设备如光电直读光谱仪、X射线荧光光谱（XRF）、X荧光测厚仪（镀层测厚仪）、激光诱导击穿光谱仪（LIBS）、热分析仪、锂电池异物分析仪、油品分析仪、土壤分析仪等。切换检测器波长时会产生小的信号差异,即使这样UH4150也可实现高精度的测定

安装在积分球上的多个检测器可在紫外-可见-近红外的波长范围内进行测定。由于使用日立专业的积分球结构技术和信号处理技术等，将检测器切换时（信号水平的差异）吸光度值的变化降到最小。

日立高性能的棱镜-光栅双单色器系统可实现低杂散光和低偏振

UH4150采用棱镜-光栅（P-G）双单色器的光学系统，秉承U-4100光学系统的特点。棱镜-光栅（P-G）系统与常见的光栅-光栅（G-G）系统相比,S和P偏振光强度没有大的改变。即使对于低透过率和反射率的样品，UH4150也可实现低噪音测定。

平行光束可实现反射光和散射光的精确测定

入射角对固体样品镜面反射率的测定非常重要。对于会聚光束，由于入射角根据透镜的焦距等因素会不同，因此，像导电多层膜和棱镜等光学薄膜的模拟设计值将与实际测定值不同。 但对于平行光束，相对于样品入射角始终相同，实现了高精度镜面反射率的测定。此外，平行光束可用于扩散率（雾度）的评价和透镜透过率的测定。

可提供适合不同测定目的的多种检测器

可使用八种不同材料、尺寸和形状的积分球。*2*3

改进样品室门，提升操作性。为了便于更换样品和附件的操作，采用了符合人体工学的设计。

兼容多种U-4100附件

通用附件适用于两种型号。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，适合更多的测定类型。

比U-4100型更高的样品通量

在秉承U-4100型光学系统高性能的同时，UH4150提供更高通量的测定。之前型号的仪器在1 nm数据间隔下测定时，扫描速度必须是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的扫描速度下以1 nm的间隔进行测定，显著缩短测定时间。*5UH4150在约2分钟内可从240 nm测定到2,600 nm。对需要在紫外-可见-近红外波长范围内测定的样品，如太阳能反射材料，尤其有效。

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