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SF-3/200系列厂商性质
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2026-01-07浏览次数
1301产品描述
Otsuka大塚超高速分光干涉晶圆薄膜测厚仪Otsuka大塚膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
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SF-3/800厂商性质
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2026-09-21浏览次数
110产品描述
Otsuka大塚多通道光谱仪 竖立式设计大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售好的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发绝对分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在
产品型号
SF-3厂商性质
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2026-09-21浏览次数
100产品描述
Otsuka大塚多通道光谱仪 竖立式设计大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售好的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发绝对分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在
产品型号
MCPD-9800厂商性质
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2026-09-21浏览次数
88产品描述
Otsuka大塚多通道光谱仪 竖立式设计大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售好的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发绝对分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在
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OPTM-A1厂商性质
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2026-09-21浏览次数
84产品描述
美萨科技otsuka大塚显微分光膜厚仪非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。
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