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产品分类
产品型号
SF-3/200系列厂商性质
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2026-01-07浏览次数
932产品描述
Otsuka大塚超高速分光干涉晶圆薄膜测厚仪Otsuka大塚膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
产品型号
MCPD-9800厂商性质
代理商更新时间
2026-05-21浏览次数
58产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪在线评估测试系统 本公司的MCPD series在线胶卷评价系统，由于光学式非接触·非破坏的膜厚，浓度，颜色等的检查可能。可测定膜厚范围为65nm～92μm和薄膜到厚膜都对应。（折射率1.5时）测量原理为分光干涉方式，在实现高测量再现性的同时，还支持多层厚度测量。由于采用了独自算法，可以高速实时监控，所以作为在线胶片监控，我们提出了适合的系统。...
产品型号
MCPD-6800厂商性质
代理商更新时间
2026-05-21浏览次数
54产品描述
国内代理 Otsuka大塚膜厚仪多通道光谱仪 产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出适合的方案。 不同评价方法对应不同设备 ◎...
产品型号
MCPD-9800厂商性质
代理商更新时间
2026-05-21浏览次数
52产品描述
进口Otsuka大塚膜厚仪多通道光谱仪 产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出适合的方案。 不同评价方法对应不同设备 ◎...
产品型号
在线型厂商性质
代理商更新时间
2026-05-21浏览次数
52产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪线扫描方式检测 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...
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