当前位置：
相关文章-
产品型号
OTSUKA/大塚Smart -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2025-07-14 -
浏览次数
171
产品描述
Otsuka大塚膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
产品分类
产品型号
OTSUKA/大塚Smart厂商性质
代理商更新时间
2025-07-14浏览次数
171产品描述
Otsuka大塚膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
产品型号
Otsuka大塚OPTM series厂商性质
代理商更新时间
2025-06-13浏览次数
180产品描述
Otsuka大塚显微分光膜厚仪易操作适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。
产品型号
Otsuka大塚OPTM series厂商性质
代理商更新时间
2025-06-13浏览次数
148产品描述
Otsuka大塚 显微分光膜厚仪性价比高适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。
产品型号
Otsuka大塚 OPTM series厂商性质
代理商更新时间
2025-06-13浏览次数
588产品描述
Otsuka大塚 显微分光膜厚仪简单操作适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。
产品型号
Otsuka大塚OPTM series厂商性质
代理商更新时间
2025-06-13浏览次数
155产品描述
Otsuka大塚显微分光膜厚仪操作简单非接触OPTM系列使用物镜，可以物理去除内部反射，即使是透明基板也可以实现高精度测量。此外，对具有光学异向性的膜或SiC等样品，也可不受其影响，单独测量上面的膜。