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2026-05-21 -
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产品描述
Otsuka大塚膜厚仪线扫描全面高速高精度 产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量 实现高速测量（500万点...
13915577898
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产品分类
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离线型厂商性质
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2026-05-21浏览次数
47产品描述
Otsuka大塚膜厚仪线扫描全面高速高精度 产品信息 特点 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量 实现高速测量（500万点...
产品型号
GS-300 series厂商性质
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2026-05-21浏览次数
43产品描述
Otsuka大塚膜厚仪对应膜厚测量系统 产品信息 特点 支持集成到 Φ300mm EFEM 单元的备用端口 实现嵌入在晶片中的布线图案的图案对齐 支持半导体工艺的高吞吐量要求 支持槽口对齐功能 小尺寸规格 高精度自动校准单元 自动...
产品型号
Smart厂商性质
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2026-05-21浏览次数
78产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪智能测量仪 智能膜厚测量仪具备以下特点： ● 可随身携带至生产现场的手持式设计 ● 操作简便，新人也能轻松上手 ● 虽为手持设备却可实现高精度测量 ● 支持对三维样品进行无损检测
产品型号
SF-3/1300厂商性质
代理商更新时间
2026-05-21浏览次数
53产品描述
国内代理Otsuka大塚膜厚仪晶圆分光干涉式 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品型号
SF-3/800厂商性质
代理商更新时间
2026-05-21浏览次数
47产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪晶圆分光干涉式 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...