Otsuka大塚膜厚仪_第(3)页-美萨科技（苏州）有限公司

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Otsuka大塚膜厚仪是专门用于测量薄膜厚度的仪器

新基 thinky自转公转冷却纳米粉碎机　NP-100

自转公转真空搅拌机　日新基THINKY MIXER　ARV-310P美萨全系列代理

SSD西西蒂AGZIII/ AGZIV 晶圆半导体手持式静电消除器

Otsuka大塚膜厚仪的优势在于操作简单、耐用性强

SF-3/300Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆

产品型号
SF-3/300

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-21

浏览次数
41

产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
SF-3/300日本进口Otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪

产品型号
SF-3/300

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-20

浏览次数
51

产品描述
日本进口Otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
SF-3/200Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆

产品型号
SF-3/200

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-20

浏览次数
47

产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
OPTM-H3日本进口Otsuka大塚膜厚仪显微微分光嵌入型

产品型号
OPTM-H3

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-20

浏览次数
43

产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪显微微分光嵌入型利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
OPTM-H2国内代理Otsuka大塚膜厚仪嵌入型显微微分光

产品型号
OPTM-H2

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-20

浏览次数
56

产品描述
国内代理Otsuka大塚膜厚仪嵌入型显微微分光利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。

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