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产品型号
OPTM-H1 -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2026-05-20 -
浏览次数
51
产品描述
日本Otsuka大塚膜厚仪嵌入型显微微分光 利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
13915577898
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产品分类
产品型号
OPTM-H1厂商性质
代理商更新时间
2026-05-20浏览次数
51产品描述
日本Otsuka大塚膜厚仪嵌入型显微微分光 利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
产品型号
OPTM-A3厂商性质
代理商更新时间
2026-05-20浏览次数
38产品描述
日本Otsuka大塚膜厚仪显微分光新型高精度 ● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。...
产品型号
OPTM-A2厂商性质
代理商更新时间
2026-05-20浏览次数
38产品描述
国内代理Otsuka大塚膜厚仪显微分光 ● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。
产品型号
OPTM-A1厂商性质
代理商更新时间
2026-05-20浏览次数
52产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪显微分光 ● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。
产品型号
nanoSAQLA厂商性质
代理商更新时间
2026-05-20浏览次数
43产品描述
Otsuka大塚膜厚仪纳米粒子径测试系统 nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。...