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产品型号
Otsuka大塚ELSZneo -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2025-06-13 -
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产品描述
Otsuka大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统ELSZ series的高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。
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Otsuka大塚ELSZneo厂商性质
代理商更新时间
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75产品描述
Otsuka大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统ELSZ series的高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。
产品型号
Otsuka大塚RETS series厂商性质
代理商更新时间
2025-06-12浏览次数
139产品描述
Otsuka大塚液晶层间隙量测设备产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目...
产品型号
Otsuka大塚RETS series厂商性质
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2025-06-12浏览次数
90产品描述
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产品型号
Otsuka大塚SF-3厂商性质
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2025-06-12浏览次数
128产品描述
Otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪易使用即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
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Otsuka大塚SF-3厂商性质
代理商更新时间
2025-06-12浏览次数
112产品描述
Otsuka大塚 分光干涉式晶圆膜厚仪 体积小即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...