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  • ELSZ-2000ZS日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量
    ELSZ-2000ZS日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量

    产品型号

    ELSZ-2000ZS

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-19

    浏览次数

    43

    产品描述

    日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量 ●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径,并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围(0.6nm~10um),浓度范围(0.00001%~40%)。对电渗透流进行实测,可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...
  • LE-SeriesOtsuka大塚膜厚仪高速LED光学特性仪
    LE-SeriesOtsuka大塚膜厚仪高速LED光学特性仪

    产品型号

    LE-Series

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-19

    浏览次数

    47

    产品描述

    Otsuka大塚膜厚仪高速LED光学特性仪 产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现最短2ms~的光谱测量(LE-5400) 同以往的产品相比,测量?演算?评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型 测量..
  • 辐射照度日本进口Otsuka大塚膜厚仪高性能分光光度计
    辐射照度日本进口Otsuka大塚膜厚仪高性能分光光度计

    产品型号

    辐射照度

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-19

    浏览次数

    40

    产品描述

    日本进口Otsuka大塚膜厚仪高性能分光光度计 特殊长度 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ,在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围...
  • GP-2000Otsuka大塚膜厚仪紫外分光配光测量系统
    GP-2000Otsuka大塚膜厚仪紫外分光配光测量系统

    产品型号

    GP-2000

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-19

    浏览次数

    42

    产品描述

    Otsuka大塚膜厚仪紫外分光配光测量系统 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 支持从 LED 芯片到模块和应用...
  • GP-1100日本 Otsuka大塚膜厚仪分光配光测量系统
    GP-1100日本 Otsuka大塚膜厚仪分光配光测量系统

    产品型号

    GP-1100

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-19

    浏览次数

    43

    产品描述

    日本 Otsuka大塚膜厚仪分光配光测量系统 产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 支持从 LED 芯片到模块和应用...
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