当前位置：
相关文章-
产品型号
Otsuka大塚SF-3 -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2025-06-12 -
浏览次数
74
产品描述
Otsuka大塚 分光干涉式晶圆膜厚仪省空間即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品分类
产品型号
Otsuka大塚SF-3厂商性质
代理商更新时间
2025-06-12浏览次数
74产品描述
Otsuka大塚 分光干涉式晶圆膜厚仪省空間即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品型号
Otsuka大塚SF-3厂商性质
代理商更新时间
2025-06-12浏览次数
53产品描述
Otsuka大塚 分光干涉式晶圆膜厚仪安装简易即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品型号
Otsuka大塚SF-3厂商性质
代理商更新时间
2025-06-12浏览次数
47产品描述
Otsuka大塚 分光干涉式晶圆膜厚仪高度检测即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速..
产品型号
Otsuka大塚OPTM series厂商性质
代理商更新时间
2025-06-09浏览次数
79产品描述
Otsuka大塚显微分光膜厚仪 高精度测量 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。
产品型号
Otsuka大塚 OPTM series厂商性质
代理商更新时间
2025-06-09浏览次数
51产品描述
Otsuka大塚显微分光膜厚仪操作简单非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。