日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量
●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）。对电渗透流进行实测，可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...

日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量

●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）。对电渗透流进行实测，可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...

特点

● 最新型号高灵敏度APD，提高灵敏度，缩短测量时间

● 通过自动温度梯度测量可以进行变性、相变温度分析

● 可以在0 ~ 90℃的宽温度范围内进行测量

● 增加宽范围分子量测定和分析功能

● 可对应浑浊的高浓度样品的粒径·ZETA电位测定

● 测量样品池内的电渗透流，通过图谱分析提供高精度的ZETA电位测量结果

● 可对应高盐浓度溶液的ZETA电位测定

● 可对应小尺寸固体样品的ZETA电位测量

用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅对应微小颗粒，还适用于薄膜和平板表面的科学研究。

● 新型功能材料领域

燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）

纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等。

● 陶瓷/着色材料工业领域

陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）

无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）

浆料状样品

滤光器

浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究

● 半导体领域

异物附着在硅晶片表面的原理解析

研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

CMP浆料的相互作用

● 高分子聚合物/化工领域

乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）

聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能性研究、功能纳米颗粒

纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

● 制药/食品工业领域 　

乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测

日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量

核心功能与技术参数

‌三合一同步检测能力‌

‌ZETA电位测量‌：采用电泳光散射法（ELS），测量范围为 ‌-200 至 +200 mV‌，适用于评估胶体稳定性、表面电荷特性。

‌粒径测量‌：基于动态光散射法（DLS），检测范围为 ‌0.6 nm ~ 10 μm‌，可分析纳米颗粒、蛋白质、脂质体等分散体系。

‌分子量测定‌：通过静态光散射法（SLS），测量范围为 ‌360 ~ 2×10⁷ Da‌，适用于蛋白质、高分子聚合物的绝对分子量分析。

‌高灵敏度与微量样品适配‌

搭载‌高感度APD检测器‌，显著提升信号捕捉能力，缩短测试时间。

支持‌最小130 μL‌的一次性微量样品池，适合珍贵或稀有样品测试，避免交叉污染。

‌宽温控与自动梯度分析‌

温度控制范围为 ‌0~90℃‌（分辨率0.1℃），并具备‌自动温度梯度扫描功能‌，可精准捕捉样品的相变、变性温度，适用于热稳定性研究。

‌高浓度与复杂体系兼容‌

可直接测量浓度高达 ‌40%‌ 的悬浊液或乳液，无需稀释，减少因稀释导致的聚集体解离或结构变化。

支持‌高盐浓度溶液‌和‌低介电常数溶剂‌的ZETA电位测量，拓展至更多工业应用场景。

‌多类型样品适配‌

配备标准矩形、高浓度、微量可抛式等多种样品容器。

选配‌平板样品夹具‌后，可测量薄膜、固体表面的ZETA电位，适用于涂层、生物膜等平面材料研究。