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产品型号：LE-Series
更新时间：2026-05-19
厂商性质：代理商
访问量：8
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产品分类
产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400） 同以往的产品相比，测量?演算?评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型 测量..
特 点
● 与产线的控制信号同步
● 通过光纤的自由的测试系统
● 实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400）
● 同以往的产品相比，测量演算评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型
Otsuka大塚膜厚仪（OPTM系列）
Otsuka Electronics（大冢电子）开发的OPTM系列显微分光膜厚仪，专为非接触、高精度、高速测量各类薄膜厚度而设计，广泛应用于半导体、FPD（平板显示）、LED、DLC涂层等行业。
核心特点：
非破坏性测量：采用光干涉原理，无需切片或破坏样品即可完成测量。
高精度与高速度：测量速度可达1秒/点，精度高达±0.2%，支持微区测量（光斑最小约5μm）。
宽波长范围覆盖：根据不同型号适配紫外至近红外波段，满足从极薄膜到厚膜的广域测量需求。
Otsuka大塚高速LED光学特性仪（LE系列）
该设备主要用于LED生产线上对光源的光学特性进行高速、同步化、自动化检测，确保产品质量一致性，适用于LED封装、照明、背光模组等制造环节。
核心功能：
与产线控制信号同步：可实时采集LED在工作状态下的光谱数据，实现OK/NG自动判定与binning分类。
高灵敏度光谱测量：测量周期短至2ms（LE-5400），支持快速反馈与过程控制。
多维度光学参数输出：
三刺激值（kX, kY, kZ）
色度坐标（x,y）、相关色温（CCT）、Duv
显色指数（Ra, R1–R15）
光谱峰值波长、半高宽、积分光通量等
