日本进口Otsuka大塚膜厚仪高性能分光光度计
特殊长度 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围...

日本进口Otsuka大塚膜厚仪高性能分光光度计

特殊长度 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围...

特殊长度

该检测器

是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。

覆盖从紫外线到可见光和可见光到红外线的宽波长范围

带软件的样品照明电源，测量仪器批量控制

LIV测量，脉冲点测量，样品温控测量

设备校准的标准灯由我们自己的部门提供，并由 JCSS 校准公司注册。

评价项目

照度、辐照度

光谱数据（光谱辐照度）

其他测量项目

三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、

u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显

色指数 Ra、R1 至 R15

峰值波长、半宽

光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

日本进口Otsuka大塚膜厚仪高性能分光光度计

核心功能与特点

‌高精度膜厚测量‌

搭载高分辨率分光光度传感器，可覆盖从紫外到近红外的宽波长范围，能精准测量各类透明、半透明及部分不透明薄膜的厚度，测量精度可达±1nm以内，可满足高精度膜厚计量需求。

支持多角度、多波长同步检测，通过多组光源与探测器组合，可对曲面、平面等不同形态的样品进行膜厚检测，还能区分多层膜的各层厚度，为复杂膜系结构分析提供数据支撑。

‌多场景灵活适配‌

配备多种规格的测量探头，小尺寸探头可用于微小样品或狭小区域的局部膜厚检测，大尺寸探头适用于大面积样品的整体膜厚测量；还可选配环境温湿度同步监测模块，实时记录检测环境数据，为膜厚测量结果提供环境参考。

操作系统支持自定义检测参数，可根据不同行业标准设置测量波长、采样频率等，检测数据可直接导出为PDF、Excel等通用格式，便于生成检测报告与数据溯源。

‌稳定可靠的性能表现‌

采用全密封防尘防潮结构，适配实验室、生产车间等多种复杂环境，长期使用不易受环境因素影响导致性能衰减。

内置自动校准系统，可定期对传感器进行校准，无需额外校准设备，保障检测数据的长期准确性与一致性。

适用场景

‌光学镀膜研发与生产‌：为光学镜片、滤光片等光学镀膜产品的研发、生产提供精准的膜厚数据，助力镀膜工艺优化与质量把控。

‌半导体芯片制造‌：在半导体芯片制造过程中，检测晶圆表面的氧化层、光刻胶等薄膜厚度，保障芯片制造的精度与良率。

‌材料表面涂层检测‌：对各类材料表面的防腐涂层、装饰涂层等进行膜厚检测，评估涂层质量与防护性能。