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产品型号
SF-3/300 -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2026-01-07 -
浏览次数
333
产品描述
Otsuka大塚圆薄膜测厚仪Otsuka大塚多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。
13915577898
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产品分类
产品型号
SF-3/300厂商性质
代理商更新时间
2026-01-07浏览次数
333产品描述
Otsuka大塚圆薄膜测厚仪Otsuka大塚多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。