日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径测试系统
ELSZneoSE是一款专为胶体与界面科学研究设计的高精度分析仪器‌，支持粒子径、ZETA电位的连续测量，适用于生物医药、材料科学、半导体及化妆品等领域。

日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径测试系统

核心功能与技术参数

‌ZETA电位与粒径同步测量‌

采用‌电泳光散射法（ELS）与动态光散射法（DLS）结合‌的技术路径，可在同一系统中实现ZETA电位与粒径的连续测定。

‌ZETA电位测量范围‌：无有效限制，实际应用中可覆盖 ‌-200 至 +200 mV‌，适用于评估胶体稳定性。

‌粒径检测范围‌：‌0.6 nm ~ 10,000 nm‌（即10 μm），显示范围可达0.1–10⁶ nm，满足从纳米颗粒到微乳液的广域分析需求。

‌宽浓度与温度适应性‌

支持‌极稀至浓稠溶液‌（0.00001% ~ 40%）的直接测量，无需稀释，避免因稀释导致的聚集体解离或结构变化。

温度控制范围为 ‌0 ~ 90℃‌，并具备‌温度梯度扫描功能‌，可用于蛋白质变性、相转移温度等热稳定性研究。

‌高精度ZETA电位测量技术‌

系统通过‌实测细胞内电渗流‌并结合Plot解析算法，提供更高精度的ZETA电位结果，减少传统模型假设带来的误差。

配备新型‌高盐浓度兼容涂层平板单元‌，可在生理盐水等高离子强度环境下稳定测量固体表面ZETA电位，适用于生物膜、涂层材料研究。

‌多角度与多功能扩展‌

支持‌多角度粒径测量‌，提升粒径分布的分辨能力，尤其适用于多分散体系的分离分析。

可选配‌分子量测定、粒子浓度分析、微流变学（microrheology）及凝胶网状结构解析‌等功能模块，实现一机多用。

‌微量与自动化适配‌

标准流动池支持连续进样，无需更换样品即可完成双参数测量。

可选配‌超微量样品池（仅需3μL）‌，特别适合珍贵生物样本或高成本材料的测试。

日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径测试系统

特点

● 可根据用途增加功能(分子量测定、粒子浓度测定、微流变测定、凝胶网眼结构分析、粒径多角度测定)

● 可以用标准流动池连续测量粒径和zeta电位

● 可以测量从稀薄到浓厚溶液(~40% )的广泛浓度范围的粒径zeta电位

● 可以在高盐浓度下测定平板状样品的zeta电位

● 可在0~90℃的广阔温度范围内进行测量

● 通过温度梯度功能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析，提供高精度的ZETA电位测量结果

● 可安装荧光滤光器(选配)

用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅涉及微小颗粒，还涉及薄膜和平板表面的科学研究。

● 新型功能材料领域

- 燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）

- 纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等。

● 陶瓷/着色材料工业领域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）

- 无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

- 颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）

- 浆料状样品

- 滤光器

- 浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究

● 半导体领域

- 异物附着在硅晶片表面的原理解析

- 研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

- CMP浆料的相互作用

● 聚合物/化工领域

- 乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）

- 聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能研究

- 功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

● 制药/食品工业领域 　

- 乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

- 脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测