Otsuka大塚膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。

OTSUKA/日本大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售好的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发绝对分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本好的国产制造商，获得了高的信任。

利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

Otsuka大塚膜厚仪● 可携带至现场的手持式

具有形状的样品也可非破坏的测量
● 可测量0.1μm单位
● 不论基材材质、可测量其镀膜

● 可测量0.1μm单位

Otsuka大塚膜厚仪● 具有形状的样品也可非破坏的测量

● 不论基材材质、可测量其镀膜

各类日系工业品:,SSD西西蒂(离子风扇)、AND爱安得（电子天平）、SAN-EI三英(点胶阀） HOYA光源,KURABO脱泡机,USHIO牛尾照度计,Tsubosaka壶坂电机,IMV爱睦威,PISCO匹士克接头,hakko八光电机,lambda拉姆达膜厚仪,MUSASHI武藏,SAKURAI樱井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚仪、粒度仪）,Hitachi日立（扫描电镜）,MIKASA米卡萨（旋涂设备、显影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（检查光源）、Iwasaki岩崎、OTSUKA大塚电子（光学膜厚仪）、KOSAKA小坂（台阶仪）、HORIBA堀场仪器（分析仪）、SIBATA柴田科学（环境测定）、TORAY东丽浓度仪（氧气分析仪）、yamada山田卤素强光灯、CEDAR思达