Otsuka大塚超高速分光干涉晶圆薄膜测厚仪Otsuka大塚膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

产品型号：SF-3/200系列

更新时间：2026-01-07

厂商性质：代理商

访问量：731

服务热线

13162378218

立即咨询

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

科学仪器

DENSOKU电测 THINKY新基 JFE川铁 Micro square一库 LAMBDA拉姆达 IIJIMA饭岛电子 Otsuka大塚膜厚仪 KURABO仓纺 TSUBOSAKA壶坂电机 KOSAKA小坂台阶仪 MIKASA米卡萨 HORIBA堀场仪器 HITACHI日立科学仪器

查看全部产品

Otsuka大塚膜厚仪是专门用于测量薄膜厚度的仪器

trinc高柳TAS-810数量30 美萨现货系列

AND爱安德 AD-3253膜厚计数量5台现货美萨全系列代理

AND AD-3253膜厚计美萨现货系列

Otsuka大塚膜厚仪的优势在于操作简单、耐用性强

产品介绍

Otsuka大塚超高速分光干涉晶圆薄膜测厚仪
Otsuka大塚超高速分光干涉晶圆薄膜测厚仪OTSUKA/日本大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售好的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本好的国产制造商，获得了高的信任。
高速分光干涉晶圆薄膜测厚仪

　　利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

　　Otsuka大塚膜厚仪● 可携带至现场的手持式

　　具有形状的样品也可非破坏的测量

　　● 可测量0.1μm单位

　　● 不论基材材质、可测量其镀膜

　　● 可测量0.1μm单位

　　Otsuka大塚膜厚仪● 具有形状的样品也可非破坏的测量

　　● 不论基材材质、可测量其镀膜

　　各类日系工业品:,SSD西西蒂(离子风扇)、AND爱安得(电子天平)、SAN-EI三英(点胶阀) HOYA光源,KURABO脱泡机,USHIO牛尾照度计,Tsubosaka壶坂电机,IMV爱睦威,PISCO匹士克接头,hakko八光电机,lambda拉姆达膜厚仪,MUSASHI武藏,SAKURAI樱井,aitec艾泰克,otsuka大塚(膜厚仪、粒度仪),Hitachi日立(扫描电镜),MIKASA米卡萨(旋涂设备、显影)、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克(检查光源)、Iwasaki岩崎、OTSUKA大塚电子(光学膜厚仪)、KOSAKA小坂(台阶仪)、HORIBA堀场仪器(分析仪)、SIBATA柴田科学(环境测定)、TORAY东丽浓度仪(氧气分析仪)、yamada山田卤素强光灯、CEDAR思达

上一个：AGZIV日本SSD西西蒂离子风枪

返回列表

下一个：SF-3/300Otsuka大塚圆薄膜测厚仪

在线留言

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：