日本进口HORIBA堀场显微光致发光光谱仪
日本进口HORIBA堀场显微光致发光（PL）光谱仪‌是一类集成了高精度光学检测与显微成像技术的科研级分析设备，广泛应用于材料科学、半导体、二维材料及纳米技术等领域，能够实现对样品的‌光致发光特性‌进行微区乃至纳米尺度的精确测量 。

 日本进口HORIBA堀场显微光致发光光谱仪

日本进口HORIBA堀场显微光致发光（PL）光谱仪‌是一类集成了高精度光学检测与显微成像技术的科研级分析设备，广泛应用于材料科学、半导体、二维材料及纳米技术等领域，能够实现对样品的‌光致发光特性‌进行微区乃至纳米尺度的精确测量 。

这类仪器通常基于HORIBA成熟的‌LabRAM系列平台‌，融合了共焦显微光路与高性能光谱仪，支持‌拉曼光谱‌与‌光致发光（PL）‌ 的同步检测，可在同一系统中完成化学成分、晶体结构、电子能带状态等多维度信息的联合分析 。其核心优势包括：

‌高空间分辨率‌：通过共焦设计或针尖增强技术（如TERS/TEPL），实现‌1–10 nm级别‌的空间分辨能力，适用于单分子、晶界、缺陷等微结构的发光特性研究 。

‌多模态一体化‌：集成PL、拉曼、AFM等多种检测模式，支持‌二维/三维成像‌，可生成化学分布图、应力分布图、带隙 mapping 等可视化结果 。

‌宽光谱范围‌：覆盖 ‌200–2200 nm‌，适用于从紫外到近红外区域的发光信号采集，满足半导体、钙钛矿、量子点等多种材料的测试需求 。

‌自动化与智能化‌：搭载‌LabSpec 6‌专业软件，支持一键采集、自动峰识别、多组分定量分析，并可与第三方数据库联动，提升分析效率 。

 日本进口HORIBA堀场显微光致发光光谱仪

显微光致发光光谱仪，用于稳态光谱和寿命测量

MicOS显微系统可提供完整的显微光谱测量解决方案，它主要包括一个直接与光谱耦合的显微探测头和一个高性能三光栅成像光谱仪，该光谱仪最多可同时接三个探测器。

覆盖200nm-1600nm的宽光谱范围，可广泛应用于各类材料的测量

独特的内置数码相机设计，可以实时观察样品

可提供物镜朝下或物镜侧向的两种配置选择，便于测量放置在正置低温恒温器中的样品

能与多种激光波长匹配，拥有灵活性，并且易于操作

显微镜与光谱仪

使用标准显微镜进行发光表征时，通常会遇到显微镜与光谱仪光纤耦合效率低下的问题。对于很多附件，如侧向发光部件、或低温恒温器等耦合也比较困难。并且标准显微镜也不能灵活地耦合多个激光器作为激发光源。

HORBA科学仪器部的MicOS显微系统融合了显微镜和光谱学，提供从样品一直到探测器的高效耦合。可选向下物镜或侧向物镜收集样品信号光。可选电动位移平台用于样品定位和扫描。MicOS可同时耦合多个激光器，以便用于不同样品的激发。该系统内置一个可视相机，可以实时观察样品。

激光器

MicOS可与多种激光器耦合，用于单波长激发和多波长激发。激光器既可以通过光纤耦合，也可以遥过自由光路耦合到MicOS中。光纤稿合比较灵活方便而自由光路耦合耦合效率更高，并且可以通过高倍物镜获得较高空间分辨率。

MicOS显微探测头

MicOS显微探测头内置耦合光学器件，用于将激光聚焦至样品，并收集样品信号光耦合到光谱仪和探测器。它还包括一个用于照明的白光源和一个用于观察样品的相机。下图是MicOS显微探测头的光路图。

HORIBA提供的全系列光谱仪可用于您的搭建系统中，其焦距和分辨率可满足不同需求一一范围从140mm到1250mm。对于不同的应用如荧光、PL、拉曼

等，可根据具体需求选择合适的光谱仪。

·高精度、高光谱分辨率、低杂散光水平

·为拉曼应用优化的光栅和采样光学器件可选

·可升级，增加如荧光、PL等光谱测量功能