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产品型号：Type IV
更新时间：2026-04-09
厂商性质：代理商
访问量：13
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产品分类
日本进口HORIBA堀场平场成像光栅
HORIBA堀场平场成像光栅Type IV 是专为现代阵列探测器优化的高性能凹面衍射光栅，采用全息技术结合计算机辅助设计，实现光谱在平面焦面上的高分辨率成像，广泛应用于紧凑型光谱仪、OEM工业模块及科研级检测系统中 。
核心优势与技术特点
平场成像设计，适配面阵探测器
Type IV光栅通过非等距、非平行的沟槽结构设计，实现光谱在平面焦面上的聚焦，匹配CCD、CMOS等二维探测器，无需额外成像透镜，简化系统结构 。
高光通量与优异信噪比
得益于大数值孔径（NA）设计和像差校正，Type IV光栅在保持高分辨率的同时显著提升集光效率，信噪比远超传统Rowland圆构型的Type I光栅 。
近无像散成像
采用优良的成像校正PLUS技术（Imaging CorrectionPLUS），有效抑制非点像差，尤其在宽波段或多通道测量中仍能保持清晰光谱图像，适合高精度定量分析 。
多光源并行检测能力
当使用面阵探测器时，可将多个光源同时耦合至入射狭缝，并在探测器上独立分辨各光源光谱，适用于多通道荧光、发射光谱（OES）等应用场景 。
高稳定性与工业级适配性
基底材料可选熔融石英或微晶玻璃，表面镀铝或金膜，具备良好的热稳定性和抗环境老化能力，适合工业现场与空间探测等严苛环境 。
日本进口HORIBA堀场平场成像光栅
·全息像差校正母版光栅的复制光栅
·全息母版光栅可以通过离子束蚀刻方法进行闪耀，以提高效率
·适用于坚固、紧凑和低杂散光的光谱仪
·多种光栅可选(目录中未列出多种可选光栅资料)
·线色散:从几纳米/毫米到100纳米/毫米以上
·宽光谱范围:从紫外到红外
·镀膜:铝或金
图1:此图显示了“超级校正光栅“将两个独立源成像到两个独立线性阵列上。光谱1是狭缝1的“样本光谱"，光谱2是狭缝2的参考光谱。这些“狭缝"可能是光纤输入
HORIBAScientific还提供多种使用这些光栅的产品:光谱仪和高光谱相机。
