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日本HORIBA堀场高信噪比 PDA 微型光谱仪
产品简介:

日本HORIBA堀场高信噪比 PDA 微型光谱仪
日本HORIBA(堀场)高信噪比PDA微型光谱仪‌是一款专为工业OEM应用设计的高性能、紧凑型光纤耦合光谱仪,型号为‌VS70-PDA‌,具备‌超高信噪比(SNR)、宽光谱范围与稳定性‌,广泛应用于制药、半导体、环境监测、液相色谱及生命科学等领域的在线检测与系统集成。

产品型号:VS70-PDA

更新时间:2026-04-10

厂商性质:代理商

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产品介绍

日本HORIBA堀场高信噪比 PDA 微型光谱仪

日本HORIBA(堀场)高信噪比PDA微型光谱仪‌是一款专为工业OEM应用设计的高性能、紧凑型光纤耦合光谱仪,型号为‌VS70-PDA‌,具备‌超高信噪比(SNR)、宽光谱范围与稳定性‌,广泛应用于制药、半导体、环境监测、液相色谱及生命科学等领域的在线检测与系统集成。

该设备核心优势如下:

‌宽光谱覆盖‌:支持 ‌200–1000 nm‌ 的紫外-可见-近红外(UV-VIS-NIR)波段,适用于多种光学测量场景,如发射、吸收与反射分析。

‌高信噪比与高灵敏度‌:采用 ‌Hamamatsu S10123-1024N 线性光电二极管阵列(PDA)‌,具备高量子效率与平滑的光谱响应,尤其在紫外区表现优异,信噪比典型值达 ‌10,000:1‌。

‌超大满阱容量‌:PDA探测器可选 ‌1 Ge⁻‌ 满阱容量,比传统CCD深100倍以上,适用于强光环境下的高动态范围采集。

‌低杂散光设计‌:配备定制多区域‌消高阶衍射滤光片‌与‌单光学元件成像系统‌,杂散光抑制典型值低至 ‌0.01%‌,确保光谱数据高保真。

‌高速采集能力‌:光谱读出速度高达 ‌3.5 ms‌,满足工业现场快速检测需求,如过程监控与高通量分析。

‌紧凑坚固结构‌:全金属封装,无运动部件,具备良好抗振性与温度稳定性,适合嵌入工业设备或便携系统。

‌OEM友好集成‌:支持 ‌USB 2.0 接口‌ 与 ‌LabVIEW™ 采集软件‌(无需额外许可证),提供DLL驱动,便于二次开发与自动化控制。

日本HORIBA堀场高信噪比 PDA 微型光谱仪

日本HORIBA堀场高信噪比 PDA 微型光谱仪


VS70-PDAOEM光电二极管阵列光谱仪是一种高性能紧凑型光纤耦合光谱仪,覆盖了200至1000nm的宽光谱范围。这款适用于工业应用的VS70系统使用改进的VS70光学系统,带有针对UV-VIS优化的Horiba的IV型像差校正平场全息离子蚀刻凹面光栅和线性光电二极管阵列。v

该系统配备定制的多区域排序过滤器以消除高阶衍射,并采用单光学设计,可实现成像、高灵敏度、高分辨率和低杂散光性能,适用于强光应用,如发射、吸光度和反射率。

·高光谱采集速度(高读出速度3.5 ms)

·从紫外到近红外的宽光谱覆盖

·高达1Ge-的巨大PDA,比任何CCD深100多倍

·高信噪比与超低杂散光相结合

·具有平滑变化的光谱响应的高紫外线灵敏度

·高光通量

·紧凑的尺寸坚固性和稳定性

日本HORIBA堀场高信噪比 PDA 微型光谱仪




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