Otsuka大塚电子晶圆薄膜测厚仪MCPD-9800为瞬间多通道分光器MCPD系列的高级机型，与本公司以往的机型相比，实现了宽动态范围、低杂散光功能、以及高速、高再现性。适于高精度紫外定量评估、量子效率测量、在线测量为首的所有高精度测光系统。分光测量的世界得到进一步扩展。

大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售好的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发绝对分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本好的国产制造商，获得了高的信任。

利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

Otsuka大塚电子晶圆薄膜测厚仪MCPD-9800为瞬间多通道分光器MCPD系列的高级机型，与本公司以往的机型相比，实现了宽动态范围、低杂散光功能、以及更高速、更高再现性。适于高精度紫外定量评估、量子效率测量、在线测量为首的所有高精度测光系统。分光测量的世界得到进一步扩展。

具有宽动态范围，适合于全光束测量。

Otsuka大塚电子晶圆薄膜测厚仪搭载低杂散光功能，适用于UV评估和量子效率评估。与本公司旧机型相比，杂散光率只有五分之一。

最短5ms到65s*的曝光时间，适合于微弱光测量、高速测量、在线测量等广泛的测量需求。

采用Scramble加扰光纤*2，实现高再现性。

轻量、紧凑的竖立式设计，与本公司以往旧机型相比，体积降低约60%!

发射光谱测量

透射/吸收光谱测量

反射光谱测量

荧光测量

物体颜色测量

光源颜色测量（色度、亮度、照度）

膜厚测量

等离子体发射光谱测量

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