日本进口HORIBA堀场X射线荧光光谱仪
X射线荧光光谱仪（XRF）是一种快速、非破坏性的元素分析工具，能够对固体、粉末、液体等多种样品进行多元素同时检测，广泛应用于材料科学、地质勘探、环境监测、考古鉴定和工业质量控制等领域‌。

日本进口HORIBA堀场X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪（XRF）是一种快速、非破坏性的元素分析工具，能够对固体、粉末、液体等多种样品进行多元素同时检测，广泛应用于材料科学、地质勘探、环境监测、考古鉴定和工业质量控制等领域‌。

工作原理‌

XRF基于原子受激发后发射特征X射线的现象。当高能初级X射线照射样品时，会将原子内层电子击出，形成空穴；外层电子跃迁填上空穴时释放出具有特定能量的次级X射线——即特征X射线荧光。每种元素的荧光能量具有独特性，如同“指纹"，通过检测这些能量或波长，即可实现元素的定性与定量分析 。

该过程遵循‌莫塞莱定律‌：特征X射线的波长与元素原子序数存在确定关系，为元素识别提供了理论基础 。

‌主要类型‌

根据分光方式不同，XRF主要分为两类：

‌波长色散型（WDXRF）‌

利用分光晶体依据布拉格衍射原理分离不同波长的X射线，具有高分辨率和高精度，适用于高要求的定量分析 。

‌能量色散型（EDXRF）‌

采用半导体探测器（如硅漂移探测器SDD）直接测量X射线光子的能量，结构紧凑、分析速度快，适合现场快速筛查 。

此外，还衍生出多种专用类型：

‌手持式XRF‌：便于野外和现场检测，几秒内完成材料识别 。

‌微区XRF（Micro-XRF）‌：可获得元素分布图像，适用于不均匀样品 。

‌全反射XRF（TXRF）‌：检出限极低，适合痕量元素分析 。

‌同步辐射XRF（SRXRF）‌：利用同步辐射光源，灵敏度较高 。

‌核心组成部件‌

一台典型的XRF仪器主要包括以下部分 ：

‌激发源（X射线管）‌：产生初级X射线以激发样品。

‌样品室‌：用于放置和固定待测样品。

‌探测器‌：接收特征X射线并转换为电信号，常见类型包括SDD、Si(Li)等。

‌分光系统‌（WDXRF）：使用分光晶体按波长分离X射线。

‌数据处理系统‌：对采集信号进行分析，输出元素种类与含量信息。

日本进口HORIBA堀场X射线荧光光谱仪

X 射线荧光(XRF)是一种非破坏性元素分析技术，通过检测材料受激发后释放的荧光 X 射线信号，可识别材料所含元素种类并测定各元素的浓度含量。

在 X 射线荧光（XRF）分析仪中，能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）分析仪因其无损检测、多元素同时分析、样品制备简单及测量时间短等特点，更适用于各类样品的筛选分析。

HORIBA 自 1956 年起便拥有悠久的 X 射线技术研发历史，我们持续开发基于能量色散法的 XRF 分析仪。HORIBA XRF 分析仪已广泛应用于多个领域：在燃料电池、锂离子电池、制药及其他工业领域中用于异物检测和新材料研发；同时在天体地质学、考古学、法医学等研究领域对珍贵样本进行无损分析。

微区分析仪/成像分析仪