日本进口 HORIBA堀场离心式粒度分析仪
HORIBA 堀场 Partica CENTRIFUGE CN-300 离心式纳米粒度分析仪‌是一款基于离心沉降原理的高分辨率粒径分布测量设备，专为实现对未稀释及稀释样品的高精度分析而设计，适用于纳米材料、半导体、电池、颜料、医药等领域的研发与质量控制 。

 日本进口 HORIBA堀场离心式粒度分析仪

HORIBA 堀场 Partica CENTRIFUGE CN-300 离心式纳米粒度分析仪‌是一款基于离心沉降原理的高分辨率粒径分布测量设备，专为实现对未稀释及稀释样品的高精度分析而设计，适用于纳米材料、半导体、电池、颜料、医药等领域的研发与质量控制 。

核心性能参数

‌测量范围‌：‌10 nm – 40 μm‌，覆盖从纳米颗粒到微米级颗粒的宽域检测 。

‌最大离心力‌：高达 ‌30,000g‌，确保细小颗粒在强离心场中有效分离 。

‌温度控制‌：样品室与转盘具备冷却功能，防止高速旋转导致温升，维持溶剂粘度稳定，提升测量重复性与可靠性 。

关键技术优势

‌高分辨率粒度分类测量‌：

采用离心分离法，颗粒按粒径大小在离心力作用下分层沉降，一次测量即可获得全范围内的高精度粒径分布结果，尤其适合复杂多分散体系 。

‌两种测量模式灵活切换‌：

‌密度梯度模式‌：适用于高浓度或少量样品（如未稀释喷墨颜料），通过颗粒在密度梯度液中的沉降时间推算粒径，可实现 ‌2 μL 极微量进样‌ 的高精度测量 。

‌均一模式‌：适用于低浓度样品，在均匀介质中直接测量颗粒通过检测区的信号，快速获取粒径分布 。

‌高灵敏度杂质检测能力‌：

凭借高分辨率，可有效捕捉样品中微量的杂质颗粒或团聚体，保障产品质量一致性，特别适用于CMP浆料、纳米碳材料等应用 。

操作与安全性设计

‌比色皿式样品池‌：结构简单，易于清洁与更换，显著降低样品交叉污染风险 。

‌安全便捷操作‌：仅需将装样后的样品池放入转子，系统自动完成后续流程，符合国际安全标准 ‌IEC 61010-1/2-020‌，保障实验室人员安全 。

‌坚固耐用‌：整机质量约100 kg，运行平稳安静，适合长时间连续测量任务 。

 日本进口 HORIBA堀场离心式粒度分析仪

CN-300 的测量范围为 10 nm - 40 μm，可施加高达 30,000g 的离心力，并使用温度控制为各种样品产生准确的测量结果。

根据客户反馈开发并改进现有和新的 HORIBA 技术，其结果是提供安全可靠的操作，同时也易于使用的分析仪。

实现对未稀释和稀释样品粒径分布的精确测量

颗粒的粒度是按粒径大小分类后测量的，这是离心分离法的关键特点。因此，一次测量就能得到宽范围内的高精度结果。CN-300可提供两种测量方法“密度

梯度模式"和均一模式"。

可捕捉到少量杂质颗粒或团聚体

CN-300因其高分辨率可以捕获到少量的杂质颗粒。它能让你在全粒径分布范围内获得可靠的测量结果，包括含量少占比低的颗粒群。

仪器在长时间测量后性能依然稳定样品室和转盘具有冷却功能，可防止样品在旋转过程中温度升高。通过保持溶剂的粘度恒定提高测量结果的可靠性。CN-300更安静，操作更简单安全。

坚固耐用易操作

仅需将样品注入样品池

比色皿式样品池易清洁、易更换，减少样品交叉污染的风险。

符合国际安全标准(IEC6101-1/2-020)

测量案例

高分辨率测量粒径分布

下图为离心粒度分析仪测量含有四种相同浓度的二氧化硅标准颗粒的混合样品的结果，四种不同粒径颗粒所占面积几乎相同。因为颗粒按离心力分类，使用密度梯度模式测量可以获得准确的粒度分布。

样品:标准颗粒(取0.48um、0.73um、0.99um和1.57um标准样品各一滴后进行混合)

样品量:10L

溶剂:蔗糖溶液

测量条件:密度梯度模式

少量高浓度样品粒径分布的测量

离心粒度仪可以测量其他方法难以测量的高浓度样品，如用于喷墨打印机的未稀释黑色颜料，并得到高精度的测量结果，所需样品量仅为2uL。