日本HORIBA堀场纳米粒度及Zeta电位分析仪
HORIBA nanoPartica SZ-100V2‌ 是一款由日本堀场（HORIBA）公司研发的高性能纳米颗粒分析仪，集成了粒度、Zeta电位和分子量三大关键参数的测量功能于一身，广泛应用于纳米材料、生物医药、化妆品、食品及环境科学等领域 。

 日本HORIBA堀场纳米粒度及Zeta电位分析仪

HORIBA nanoPartica SZ-100V2‌ 是一款由日本堀场（HORIBA）公司研发的高性能纳米颗粒分析仪，集成了粒度、Zeta电位和分子量三大关键参数的测量功能于一身，广泛应用于纳米材料、生物医药、化妆品、食品及环境科学等领域 。

该仪器采用‌动态光散射（DLS）技术‌测量粒径，范围可达 ‌0.3 nm 至 10 µm‌，适用于从稀溶液到高浓度悬浮液（最高达40%浓度）的样品，几乎无需稀释预处理 。其搭载的‌双光路系统‌（90°和173°检测角）可优化不同样品类型的测量灵敏度与准确性，尤其适合复杂或弱散射样品 。

在Zeta电位分析方面，设备支持 ‌–500 mV 至 +500 mV‌ 的宽范围测量，仅需‌最小100 μL样品量‌即可完成测试，特别适合珍贵或微量样品的研究 。通过HORIBA自主研发的微电泳池技术，有效避免交叉污染，提升数据可靠性。

此外，SZ-100V2 还可通过静态光散射结合Debye图法测定蛋白质、聚合物等大分子的‌绝对分子量（1×10³ 至 2×10⁷ Da）‌ 及第二维利系数（A₂），为制剂稳定性研究提供关键依据 。

仪器操作简便，具备智能化数据分析能力，并配备高功率激光源（100mW），相较前代产品灵敏度提升约15倍，可实现对极稀样品或单颗粒的高精度检测 。典型应用包括金属纳米颗粒、胶体、乳液、病毒样颗粒及抗体药物的聚集行为分析等 。

 日本HORIBA堀场纳米粒度及Zeta电位分析仪

优良的分析仪器助您解开纳米世界的奥秘。只需单台设备就能表征纳米颗粒的三个参数：粒径、Zeta 电位和分子量。

纳米技术的研发是一个持续不断的过程，这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸，从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。

粒径测量范围0.3 nm~10um

SZ-100V2系列采用动态光敏射(OLS)原理测量颗粒粒径大小及分布，实现了超宽浓度范围的样品测量，该系列可准确测量低至ppm级低浓度、高至百分之几十的高浓度样品。可使用市售的样品池，也可实现对小体积样品的测量。

Zeta电位测量范围-500~+500mV

使用HORIBAZeta电位样品池测量Zeta 电位值只需样品100 uL，通过Zeta电位可预测和控制样品的分散稳定性。Zeta 电位值越高，则意味着分散体系越稳定，这对于产品配方的研究工作具有重大的意义。

分子量测量范围1x103~2x107Da

通过测量不同浓度下的静态光散射强度并通过德拜记点法计算样品的绝对分子量(M)和第二维里系数(A2)。

SZ-100V2系列具有良好的复杂信息处理能力和学习能力，可快速确定纳米颗粒的特性!SZ-100V2系列具有双光路设计，既可以测量高浓度的样品，如浆体和染料;同时也可以用于测量低浓度样品，如蛋白质、聚合物等。，使用单台设备即可表征纳米颗粒的三大参数一-粒径、Zeta电位和分子量

HORIBA研发的Zeta电位样品池可防止样品对其造成污染。样品池容量(容量100 uL)小适用于稀释样品的分析。

HORIBA研发的Zeta电位样品池的电极由碳材料制成，该材料不会受到盐溶液等高盐样品的腐蚀。