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产品型号:CC-55
更新时间:2026-04-09
厂商性质:代理商
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日本进口HORIBA堀场成像光谱仪
HORIBA堀场成像光谱仪CC-55 是一款高性能、多通道CCD成像光谱仪,专为工业OEM和科研应用设计,支持多光纤同步输入与无快门成像,适用于等离子体监测、多点光谱分析及高动态过程检测等场景 。
核心特性与技术优势
高灵敏度成像探测器
搭载 1360 × 1024 像素 的低噪声前照式Interline CCD(索尼ICX285AL),读出噪声低于 8e⁻,具备优异的弱光探测能力 。
多通道同步采集能力
支持 10–26 路光纤输入(光纤直径 100–400 µm),可同时监控多个采样点,无需快门或关闭光源,在读出过程中仍能持续采集数据,实现真正的无间断多通道监测 。
灵活的信号处理模式
支持 1x1 到 4x4 像素分箱(binning),提升信噪比与响应速度
可设置 感兴趣区域(ROI),如20行用于信号采集、21行用于分离区域,优化数据处理效率
宽光谱覆盖与高分辨率
光谱范围:380–760 nm(可调,支持向紫外或近红外扩展)
光谱分辨率:2.5–7 nm(取决于狭缝宽度)
F/2.3 高通光量设计,确保高效集光
低串扰与低杂散光
多光纤输入下串扰控制在 0.2%–0.5%,杂散光极低,保障各通道信号独立性与测量准确性 。
高速采集能力
配置下可实现 10 Hz 实时采集,在顺序采集模式下使用大光纤(600 µm)可扩展至 32 通道,满足动态过程监测需求 。
日本进口HORIBA堀场成像光谱仪
CC-55成像多通道光谱仪-同时采集10-26个光纤输入(直径在100-400 um范围内)Interline CCD,可以允许在索尼ICX285ALCCD 上进行无快门成像。

CC-55 CCD成像光谱仪采用|型光栅(等距和平行凹槽)和具有1360 x 1024像素的极低噪声Interline 前照式CCD。读出噪声低于8e。CCD可以分箱为1x1、2x2、3x3、4x4或可以允许感兴趣区域,例如:20行(RO)感兴趣和 21行(RO)分离区域。当连接到光纤输入通道时,光谱仪将收集F/2.3的所有光,并日根据所选的狭缝宽度,光谱分辨率将在2.5到7nm范围内。5.5毫米探测器长度上的光谱覆盖范围通常为380纳米至760纳米,但可以进行调整以向上或向下扩展范围。串扰被最小化(在0.2%到0.5%的范围内,取决于光纤的数量和它们的尺寸)并且杂散光非常低。具有100 um直径的多个光纤输入允许您在读出期间同时监控20个通道,而无需使用快门或关闭光源。这种配置的速度可以达到10Hz(也可以达到30-40Hz)。如果可以接受顺序采集,CC-55可以使用大光纤(600um)进行多达32个通道,暗电流:1.2电子/像素/秒(CCD温度稳定在20°C时)。
最大满阱:最大≈18,000个电子,分箱时最大≈21,600个电子。
·动态范围:2000:1典型(非分箱模式)
·强度分辨率:16位。