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日本 Otsuka大塚膜厚仪配光测量系统
产品简介:

日本 Otsuka大塚膜厚仪配光测量系统
产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 支持从 LED 芯片到模块和应用...

产品型号:GP-500

更新时间:2026-05-19

厂商性质:代理商

访问量:13

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产品介绍

 日本 Otsuka大塚膜厚仪配光测量系统

产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 支持从 LED 芯片到模块和应用...

特征

● 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量

● 从配光上评估紫外光的最大发光强度、光束开度、光束光通量

● 涵盖从紫外线到可见光的波长范围

● 支持从 LED 芯片到模块和应用产品的广泛样品

● 用软件批量控制电源和测量仪器

评价项目

紫外线辐射强度或辐照度中的光分布角分布

最大光度、光束开度、光束光通量

辐射通量、辐射强度、辐照度

总光通量

光谱数据

根据配光测量系统的测量项目  

总光通量、色度坐标xy、uv、u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度显

色指数Ra、R1至R15

峰值波长、半值范围

日本 Otsuka大塚膜厚仪配光测量系统

日本Otsuka大塚的GP-500紫外分光配光测量系统是一款面向紫外光领域的高精度专业检测设备,以下是具体介绍:

核心功能与特点

‌全波段精准光谱检测‌

搭载高分辨率紫外光谱传感器,覆盖UVA、UVB、UVC全波段,可精准测量紫外光的光谱功率分布、辐射照度、光通量等核心参数,检测精度可达±1.5%以内,满足高精度紫外辐射计量需求。

支持多点阵列式测量,配备可灵活调整的探头阵列,可对大面积紫外光源或被照射物体表面进行多点同步检测,生成紫外辐射分布热图,直观呈现辐射均匀性。

‌多场景灵活适配‌

配备多种规格探头,小尺寸探头可用于狭小空间或微小样品的局部检测,大尺寸探头适用于大面积光源的整体辐射测量;还可选配温湿度同步监测模块,实时记录检测环境的温湿度数据,为紫外辐射数据提供环境参考。

操作系统支持自定义检测参数,可根据不同行业标准设置检测波长范围、采样频率等,检测数据可直接导出为PDF、Excel等通用格式,便于生成检测报告与数据溯源。

‌稳定可靠的性能表现‌

采用全密封防尘防潮结构,适配实验室、生产车间等多种复杂环境,长期使用不易受环境因素影响导致性能衰减。

内置自动校准系统,可定期对传感器进行校准,无需额外校准设备,保障检测数据的长期准确性与一致性。

适用场景

‌紫外光源研发与生产‌:为紫外LED、紫外杀菌灯等光源的研发、生产提供精准的辐射参数数据,助力光源性能优化与质量把控。

‌紫外辐射安全检测‌:在医疗、美容、工业紫外照射场景中,检测环境或人体表面的紫外辐射剂量,确保符合安全标准,避免紫外辐射伤害。

‌材料紫外老化测试‌:配合材料老化试验箱,实时监测紫外老化过程中的辐射强度与光谱分布,为材料耐候性研究提供数据支撑。


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