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产品型号:S12362
更新时间:2026-07-15
厂商性质:代理商
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HAMAMATSU 滨松光子,全称滨松光子学株式会社(Hamamatsu Photonics K.K.),日本全球顶尖光子科技企业,1953 年创立,总部静冈县滨松市,是光电子、射线检测、激光设备领域龙头厂商,核心产品线,光电倍增管 PMT,光半导体器件,X 射线 / 射线发生装置,激光器与光学仪器,整机检测设备。
适用于 X 射线非破坏性检测的背照式光电二极管阵列(像元间距:2.5 mm)
S12362-021 是一款背照式 16 像元光电二极管阵列,专为无损 X 射线检查而设计。背照式光电二极管阵列也易于处理,并且易于连接到闪烁体,而不必担心导线损坏,因为背面没有焊线和受光面。
特点
-光谱响应范围:340 至 1100 nm
-像元尺寸:2.2 (W) × 2.7 (H) mm/单像元
-像元间距:2.5 mm(× 16 像素)
-安装基板尺寸:40.4 (W) × 10.2 (H) mm
-通过多个阵列实现狭长形状
-支持双能量成像(用于上下两层组合时。)

详细参数:
| 像元尺寸(每个像元) | 2.2 × 2.7 mm |
|---|---|
| 像元数 | 16 |
| 封装 | 玻璃环氧树脂 |
| 封装类别 | 未密封 |
| 闪烁体类型 | 无 |
| 制冷 | 非冷却型 |
| 光谱响应范围 | 340 至 1100 nm |
| 最大灵敏度波长(典型值) | 920 nm |
| 感光灵敏度(典型值) | 0.61 A/W |
| 暗电流(最大值) | 50 pA |
| 上升时间(典型值) | 6.5 μs |
| 结电容(典型值) | 75 pF |
| 备注 | 本光电二极管阵列本身不用作 X 射线探测器。应在用户侧添加适当的闪烁体或磷光片。 |
| 测量条件 | Ta = 25°C,每个像元,感光灵敏度:λ = λp |
外形尺寸图:

| 型号 | 闪烁体配置 | 适用场景 |
|---|---|---|
| S12362-021 | 无闪烁体裸片 | 340~1100nm 可见光 / 近红外多通道测光 |
| S12362-121 | CsI (Tl) 碘化铯 | 低速大件 X 光安检,X 光转换灵敏度高 |
| S12362-321 | GOS 陶瓷闪烁体 | 高速流水线探伤、快递分拣,余辉极低无拖影 |
| S12362-421 | 磷光片 | 低能软 X 射线检测,成本友好 |
通道数:16 个独立光电二极管
单像元尺寸:2.2 mm(宽)× 2.7 mm(高)
像元中心间距:2.5 mm
总感光长度:16×2.5=40 mm
基板尺寸:40.4 × 10.2 mm(窄板紧凑型);同系列 S12363 为 40.4 × 20 mm 宽板
工艺:背照凸点键合,感光面无金线,贴合闪烁体不易损坏、抗震
光谱(裸片 - 021):340~1100 nm,峰值 920 nm,峰值光敏度 0.61 A/W
最大反向耐压:10 V
最大暗电流:50 pA
典型结电容:75 pF,上升时间 6.5 μs
通道间串扰经过优化,成像灰度均匀
大像元 + 宽间距:单像元感光面积比 S11212 更大,弱 X 光下信噪比更优,适合厚工件探伤
模块化无缝拼接:多片并排延长探测长度,适配宽幅流水线扫描
支持双层堆叠双能成像:高低能 X 射线区分金属 / 有机物、异物识别
工业加固背照结构,震动环境下闪烁体不易脱落、引线无断裂风险
机场 / 快递大型 X 光安检机、集装箱大件扫描
工业无损检测:铸件缺陷、锂电池极片、食品异物在线检测
裸片款:多通道分光、光束轮廓、可见光多波长同步测量
像元间距:S12362=2.5 mm;S11212/S11299=1.575 mm,S12362 单像元更大、总感光长度更长
基板:S12362 窄板 40.4×10.2 mm,感光总长 40mm,适合宽幅设备;S11299 总长仅 25.2mm
暗电流:S12362 最大 50pA,略高于 S11212/11299(30pA)
选型区分:窄幅紧凑型设备选 S11299;大件、厚料、宽流水线 X 光检测选 S12362