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KURABO仓纺脱泡机的维护保养方法

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SF-3/1300国内代理Otsuka大塚膜厚仪晶圆分光干涉式

产品型号
SF-3/1300

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-21

浏览次数
106

产品描述
国内代理Otsuka大塚膜厚仪晶圆分光干涉式即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
SF-3/800日本进口Otsuka大塚膜厚仪晶圆分光干涉式

产品型号
SF-3/800

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-21

浏览次数
93

产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪晶圆分光干涉式即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
SF-3/300Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆

产品型号
SF-3/300

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-21

浏览次数
99

产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
SF-3/300日本进口Otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪

产品型号
SF-3/300

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-20

浏览次数
97

产品描述
日本进口Otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...
SF-3/200Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆

产品型号
SF-3/200

厂商性质
代理商

更新时间
2026-05-20

浏览次数
87

产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速...

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