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产品型号
ET4000M -
厂商性质
其他 -
更新时间
2026-08-27 -
浏览次数
162
产品描述
代理KOSAKA小坂研究所台阶仪微细形状测定机,微細形状測定機,接触式金刚石探针,测量薄膜台阶高度(膜厚)、刻蚀深度、表面粗糙度、轮廓、薄膜内应力,半导体 / MEMS/FPD 行业主流设备,对标 Bruker Dektak、KLA 台阶仪
产品分类
产品型号
ET4000M厂商性质
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2026-08-27浏览次数
162产品描述
代理KOSAKA小坂研究所台阶仪微细形状测定机,微細形状測定機,接触式金刚石探针,测量薄膜台阶高度(膜厚)、刻蚀深度、表面粗糙度、轮廓、薄膜内应力,半导体 / MEMS/FPD 行业主流设备,对标 Bruker Dektak、KLA 台阶仪
产品型号
ET4000系列厂商性质
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173产品描述
KOSAKA小坂研究所台阶仪薄膜测厚仪,1950 年创立,总部东京,日本*表面微观形貌精密测量仪器厂商。公司分为三大事业部:精密测定仪器部)、自动机械装置部、流体泵设备部;国内半导体、精密加工、光学行业主要使用测定部设备。行业地位:日本粗糙度 / 台阶仪厂商;接触式台阶仪 ET 系列是半导体、MEMS、FPD 行业主流设备
产品型号
ET200A厂商性质
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106产品描述
KOSAKA小坂研究所台阶仪薄膜测厚仪1950 年创立,总部东京,日本*表面微观形貌精密测量仪器厂商。 公司分为三大事业部:精密测定仪器部、自动机械装置部、流体泵设备部;国内半导体、精密加工、光学行业主要使用测定部设备。 行业地位:日本粗糙度 厂商;接触式台阶仪 ET 系列是半导体、MEMS、FPD 行业主流设备
产品型号
LSB‑111TWR‑B2厂商性质
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180产品描述
TSUBOSAKA壶坂电机LED光源检测设备LSB‑0505FB‑xx:50×50mm 发光面,小尺寸基准光源;支持白光 / IR850/IR940 红外版本 LSB‑1010WC:100×100mm,通用高演色 LED 辉度箱,DC 无闪烁,支持 RS232/USB 上位机控制 LSB‑111TWR‑B2:经典款,可多 EV 亮度档位切换,做动态范围测试
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厂商性质
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2026-08-07浏览次数
284产品描述
美萨代理TSUBOSAKA壶坂电机LED光源检测设备STB-209X用于相机、CIS 线扫、图像传感器:坏点测试、AE/AWB 自动曝光白平衡、线性响应、HDR 动态范围评估 LSB‑0505FB‑xx:50×50mm 发光面,小尺寸基准光源;支持白光 / IR850/IR940 红外版本