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产品型号
TFW-100（2） -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2025-06-21 -
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产品描述
LAMBDA拉姆达lambda工业分光膜厚测量仪 分光膜厚测量 TFW-100（1）/（2）/（3） 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
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产品型号
TFW-100（2）厂商性质
代理商更新时间
2025-06-21浏览次数
71产品描述
LAMBDA拉姆达lambda工业分光膜厚测量仪 分光膜厚测量 TFW-100（1）/（2）/（3） 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
产品型号
TFW-100厂商性质
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2025-06-21浏览次数
94产品描述
LAMBDA拉姆达日本光谱膜厚仪分光膜厚测量 分光膜厚测量 TFW-100（1）/（2）/（3） 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
产品型号
LVmicro-Z厂商性质
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2025-06-21浏览次数
78产品描述
LAMBDA拉曼膜厚仪拉姆达lambda显微光谱学 它是工业领域显微光谱学的行业标准！ 近年来，在各个领域的微器件的制造和开发中，出现了对小规模光谱测量的需求。 我们提出了 2 μm 显微镜范围内的高精度、高稳定性的显微光谱测量技术。
产品型号
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LAMBDA拉姆达lambda日本高出力分光光源ML200/300 它是一种单色产光光谱源，具有高分辨率、低杂散光和高功率，结合了双光谱仪和 500W 氙灯。 它是各种激发光源的理想选择！
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LV MICRO SUV厂商性质
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2025-06-21浏览次数
81产品描述
微光谱拉姆达LAMBDA紫外赤外显微分光装置 非常适合在研究环境中使用。 我们为在工业领域享有盛誉的显微光谱研究领域提供从紫外到近红外的简单显微测量。 它是一种价格低廉的微光谱装置