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产品型号
SZ-100V2 -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2025-08-14 -
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221
产品描述
HORIBA堀场荧光光谱仪Duetta 标配超快*的 CCD 技术，让它在采集速度的数倍优于任何使用 PMT 的荧光光谱仪。 SZ-100V2
13915577898
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产品分类
产品型号
SZ-100V2厂商性质
代理商更新时间
2025-08-14浏览次数
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产品型号
TFW-100型 （3）厂商性质
代理商更新时间
2025-06-21浏览次数
346产品描述
LAMBDA低成本光谱膜厚测量设备拉姆达膜厚仪 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
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产品型号
TFW-100厂商性质
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2025-06-21浏览次数
258产品描述
LAMBDA拉姆达日本光谱膜厚仪分光膜厚测量 分光膜厚测量 TFW-100（1）/（2）/（3） 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
产品型号
LVmicro-Z厂商性质
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2025-06-21浏览次数
197产品描述
LAMBDA拉曼膜厚仪拉姆达lambda显微光谱学 它是工业领域显微光谱学的行业标准！ 近年来，在各个领域的微器件的制造和开发中，出现了对小规模光谱测量的需求。 我们提出了 2 μm 显微镜范围内的高精度、高稳定性的显微光谱测量技术。