Otsuka大塚膜厚仪多样品纳米粒子径测试系统
nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量"的新产品。

  Otsuka大塚膜厚仪多样品纳米粒子径测试系统

nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量"的新产品。

核心功能与特点

‌双维度精准测量‌

兼具高精度膜厚测量与纳米粒子粒径分析功能，膜厚测量精度可达0.1nm级，可覆盖金属、非金属、透明薄膜、多层膜等全类型样品；同时能对纳米级粒子的粒径分布、形貌特征进行精准检测，支持多样品同时测试，大幅提升检测效率。

采用非接触式测量技术，通过光波动场与散射光谱分析结合的方式，避免传统接触式测量对样品造成的损伤，适配科研、精密制造等对样品完整性要求高的场景。

‌智能高效的操作体验‌

配备高清触控彩屏与直观操作界面，支持一键式启动测量；搭载智能样品识别系统，可自动识别不同样品类型并匹配测量参数，降低操作门槛。

支持蓝牙、Wi-Fi无线传输，可将膜厚数据、粒径分布曲线、粒子形貌图像实时同步至电脑、平板或云端，搭配专属分析软件，能快速生成包含膜厚分布、粒径统计报告、粒子形貌图等在内的可视化文档，还可对历史数据进行存储、调取与对比分析。

‌适配性与稳定性‌

可适配电子、半导体、光学、生物医药、材料科学等多个领域的多样品检测需求，无论是实验室科研还是工业生产线质检都能胜任。

机身采用高强度防摔材质，具备IP54级防尘防水性能，同时配备专业减震结构，能有效抵消环境振动、温度波动等干扰，长时间使用也能保持数据的高一致性。

  Otsuka大塚膜厚仪多样品纳米粒子径测试系统

特点

● 1台便可实再5个样品的连续测量

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置，实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作，简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能

测量范围（理论值）

● 粒径0.6nm～10μm

● 浓度范围 0.00001～40％

● 温度范围0～90℃*