Otsuka大塚膜厚仪粒径分子量测试系统
【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。

Otsuka大塚膜厚仪粒径分子量测试系统

【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。

特点

● 可对应从稀薄到浓厚溶液（~40%）宽浓度范围的粒径和ZETA电位测量

● 通过多角度测定，可测量分辨率更高的粒径分布

● 可以在高盐浓度下测量平板样品的ZETA电位

● 通过静态光散射法可测量粒子的浓度

● 能过动态光散射法可测量微流变学

● 通过测量凝胶样品在多个点的散射强度和扩散系数，可以分析凝胶的网络结构和不均匀性。

● 可以在0 ~ 90℃的宽温度范围内进行测量

● 通过温度梯度功能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析，提供高精度的ZETA电位测量结果,

● 可安装荧光滤光器(选配)

用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅涉及微小颗粒，还涉及薄膜和平板表面的科学研究。

● 新型功能材料领域

- 燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）

- 纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等

● 陶瓷/着色材料工业领域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）

- 无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

- 颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）

- 浆料状样品

- 滤光器

- 浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究

● 半导体领域

- 异物附着在硅晶片表面的原理解析

- 研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

- CMP浆料的相互作用

● 聚合物/化工领域

- 乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）

- 聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能研究

- 功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

● 制药/食品工业领域 　

- 乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

- 脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测

Otsuka大塚膜厚仪粒径分子量测试系统

核心功能与特点

‌三维度精准测量‌

兼具高精度膜厚测量、纳米粒子粒径分析与分子量检测功能，膜厚测量精度可达0.1nm级，可覆盖金属、非金属、透明薄膜、多层膜等全类型样品；能对纳米级粒子的粒径分布、形貌特征进行精准检测，同时可对高分子材料的分子量及分子量分布进行准确测定，支持多样品同时测试，大幅提升检测效率。

采用非接触式测量技术，通过光波动场、散射光谱分析与凝胶渗透色谱（GPC）技术结合的方式，避免传统接触式测量对样品造成的损伤，适配科研、精密制造等对样品完整性要求高的场景。

‌智能高效的操作体验‌

配备高清触控彩屏与直观操作界面，支持一键式启动测量；搭载智能样品识别系统，可自动识别不同样品类型并匹配测量参数，降低操作门槛。

支持蓝牙、Wi-Fi无线传输，可将膜厚数据、粒径分布曲线、粒子形貌图像、分子量分布报告实时同步至电脑、平板或云端，搭配专属分析软件，能快速生成包含膜厚分布、粒径统计报告、粒子形貌图、分子量分析图表等在内的可视化文档，还可对历史数据进行存储、调取与对比分析。

‌适配性与稳定性‌

可适配电子、半导体、光学、生物医药、材料科学等多个领域的多样品检测需求，无论是实验室科研还是工业生产线质检都能胜任。

机身采用高强度防摔材质，具备IP54级防尘防水性能，同时配备专业减震结构，能有效抵消环境振动、温度波动等干扰，长时间使用也能保持数据的高一致性。