Otsuka大塚膜厚仪显微分光膜厚仪
● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚"测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。...

  Otsuka大塚膜厚仪显微分光膜厚仪

● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚"测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。...

产品特色：

● 非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内

● 初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式

● 高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的绝对反射率，可分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率、k：消光系数）

● 单点对焦加量测在1秒内完成

● 显微分光下广范围的光学系统（紫外 ~ 近红外）

● 独立测试头对应各种inline定制化需求

● 最小对应spot约3μm

● 可针对超薄膜解析nk

Otsuka大塚膜厚仪显微分光膜厚仪

日本Otsuka大塚的显微分光膜厚仪OPTM series是一款主打高精度、多场景适配的膜厚检测仪器，以下是具体介绍：

核心功能与特点

‌精准膜厚测量能力‌

基于显微分光技术，可实现0.1nm级精度的膜厚测量，支持金属、非金属、透明、半透明及不透明薄膜，还能对多层膜进行逐层厚度解析，精准获取各层膜的厚度数据。

搭载高分辨率显微成像系统，可同步捕捉样品表面的微观形貌，将膜厚数据与表面特征对应关联，为分析提供更全面的依据。

‌智能高效的操作体验‌

配备直观的触控操作界面，支持一键式启动测量，内置智能样品识别算法，能自动匹配测量参数，降低操作人员的专业门槛。

支持蓝牙、Wi-Fi无线传输，可将膜厚数据、显微图像实时同步至电脑、平板或云端，搭配专属分析软件，能快速生成包含膜厚分布图、数据统计报告等在内的可视化文档，还可对历史数据进行存储、调取与对比分析。

‌适配性与稳定性‌

适配电子、半导体、光学、航空航天、材料科学等多个领域的检测需求，无论是实验室科研还是工业生产线质检都能胜任。

机身采用高强度防摔材质，具备IP54级防尘防水性能，配备专业减震结构，可有效抵消环境振动、温度波动等干扰，长时间使用也能保持数据的高一致性。