Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量
●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）。对电渗透流进行实测，可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...

Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量

●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）。对电渗透流进行实测，可通过最小容量130μL 微量可抛式样品池实现...

核心功能与特点

‌多维度精准检测‌

‌粒径检测‌：采用动态光散射技术，可检测粒径范围覆盖0.3nm-3μm，能精准分析纳米级到微米级颗粒的粒径分布，支持多分散性样品的检测，为材料分散性研究提供数据支撑。

‌ZETA电位检测‌：通过激光多普勒微粒分析技术，可准确测量颗粒在分散介质中的ZETA电位，判断颗粒分散体系的稳定性，适用于涂料、墨水、医药制剂等领域的分散体系分析。

‌分子量测定‌：结合静态光散射技术，可测定高分子材料的绝对分子量，无需依赖标样校准，为高分子材料的研发、生产提供精准的分子量数据。

‌高效便捷的操作体验‌

配备智能样品池，支持微量样品检测，样品用量低至10μL，减少样品消耗，同时降低交叉污染风险。

操作界面简洁直观，支持一键式检测启动，内置多种预设检测模式，可快速适配不同样品类型与检测需求，检测数据可直接导出为多种格式，便于后续分析与报告生成。

‌稳定可靠的性能表现‌

采用高稳定性激光光源，光路系统经过精密优化，检测数据重复性好，长期使用也能保持稳定的检测精度。

具备温控系统，可精准控制样品检测温度，消除温度波动对检测结果的影响，确保数据的准确性与可靠性。

适用场景

‌材料研发领域‌：为纳米材料、高分子材料、陶瓷材料等的研发提供粒径、ZETA电位及分子量的综合数据，助力材料性能优化。

‌医药与生物领域‌：用于药物制剂、生物大分子、病毒颗粒等样品的分析，为药物研发、生物制品质量控制提供数据支持。

‌化工与涂料领域‌：分析涂料、油墨、胶粘剂等分散体系的粒径与ZETA电位，优化配方，提升产品稳定性与性能。

Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径分子量

产品型号：

选型表

*1：需搭配选配件PH滴定仪 *2：需搭配选配件PH滴定仪和粒径流动容器

特点

● 最新型号高灵敏度APD，提高灵敏度，缩短测量时间

● 通过自动温度梯度测量可以进行变性、相变温度分析

● 可以在0 ~ 90℃的宽温度范围内进行测量

● 增加宽范围分子量测定和分析功能

● 可对应浑浊的高浓度样品的粒径·ZETA电位测定

● 测量样品池内的电渗透流，通过图谱分析提供高精度的ZETA电位测量结果

● 可对应高盐浓度溶液的ZETA电位测定

● 可对应小尺寸固体样品的ZETA电位测量

用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅对应微小颗粒，还适用于薄膜和平板表面的科学研究。

● 新型功能材料领域

燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）

纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等。

● 陶瓷/着色材料工业领域

陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）

无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）

浆料状样品

滤光器

浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究

● 半导体领域

异物附着在硅晶片表面的原理解析

研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

CMP浆料的相互作用

● 高分子聚合物/化工领域

乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）

聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能性研究、功能纳米颗粒

纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

● 制药/食品工业领域 　

乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测