Otsuka大塚膜厚仪紫外分光辐射照度测量系统
产品信息 特征 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围 带软件的样品照明电源...

Otsuka大塚膜厚仪紫外分光辐射照度测量系统

产品信息 特征 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围 带软件的样品照明电源...

特征

● 该检测器是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。

● 覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围

● 带软件的样品照明电源，测量仪器批量控制

● LIV测量，脉冲点测量，样品温控测量

● 设备校准的标准灯由我们自己的部门提供，并由 JCSS 校准公司注册。

评价项目

照度、辐照度

光谱数据（光谱辐照度）

其他测量项目

三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、

u'v'相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显色指数 Ra、R1 至 R15峰值波长、半宽光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

Otsuka大塚膜厚仪紫外分光辐射照度测量系统

日本Otsuka大塚的这款New紫外分光辐射照度测量系统是面向紫外光辐射检测的高精度专业设备，以下是具体介绍：

核心功能与特点

‌精准的紫外辐射参数检测‌

搭载高灵敏度紫外光谱传感器，可覆盖UVA、UVB、UVC全波段检测，能精准测量不同波长紫外光的辐射照度、光谱功率分布等核心参数，检测精度可达±2%以内，满足高精度紫外辐射计量需求。

支持多点阵列式测量，配备可灵活调整的探头阵列，可对大面积紫外光源或被照射物体表面进行多点同步检测，生成紫外辐射分布热图，直观呈现辐射均匀性。

‌适配多场景的灵活配置‌

配备多种规格探头，可适配不同检测场景：小尺寸探头可用于狭小空间或微小样品的局部检测，大尺寸探头适用于大面积光源的整体辐射测量；还可选配温湿度同步监测模块，实时记录检测环境的温湿度数据，为紫外辐射数据提供环境参考。

操作系统支持自定义检测参数，可根据不同行业标准设置检测波长范围、采样频率等，检测数据可直接导出为PDF、Excel等通用格式，便于生成检测报告与数据溯源。

‌稳定可靠的性能表现‌

采用全密封防尘防潮结构，适配实验室、生产车间等多种复杂环境，长期使用不易受环境因素影响导致性能衰减。

内置自动校准系统，可定期对传感器进行校准，无需额外校准设备，保障检测数据的长期准确性与一致性。

适用场景

‌紫外光源研发与生产‌：为紫外LED、紫外杀菌灯等光源的研发、生产提供精准的辐射参数数据，助力光源性能优化与质量把控。

‌紫外辐射安全检测‌：在医疗、美容、工业紫外照射场景中，检测环境或人体表面的紫外辐射剂量，确保符合安全标准，避免紫外辐射伤害。

‌材料紫外老化测试‌：配合材料老化试验箱，实时监测紫外老化过程中的辐射强度与光谱分布，为材料耐候性研究提供数据支撑。