Otsuka大塚膜厚仪液晶层间隙量测设备
产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目...

  Otsuka大塚膜厚仪液晶层间隙量测设备 

产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目...

特　点

● 采用了偏光光学系和多通道分光检出器

● 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板

● 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备

测量项目

● 封入cell gap

● twist角 *

● rubbing角 *

● pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］ *

● 空cell gap *

● 相位差（复折射相位差）的波长分散 *

● 光学轴 *

● 椭圆率/方位角 *

● 三次元折射率/Rth/β*

● 分光光谱/色度*

*选配功能追加

测量对象

● 液晶cell

　-　透过、半透过型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电）

　-　反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）

● 光学材料

　-　其他（相位差、椭圆、偏光膜、液晶材料）

Otsuka大塚膜厚仪液晶层间隙量测设备 

核心功能与特点

‌高精度间隙量测‌

采用光学干涉测量技术，可实现亚微米级精度的液晶层间隙检测，能精准捕捉液晶盒内间隙的细微差异，适配不同世代线的液晶面板生产需求。

支持全区域扫描测量，可对液晶面板的边角、中心等不同位置进行多点检测，生成完整的间隙分布图，为液晶显示均匀性分析提供数据支撑。

‌适配液晶生产的高效检测‌

配备液晶面板专用载台，支持从中小尺寸到大尺寸全规格液晶面板的快速装夹，内置自动定位与对准系统，大幅缩短检测准备时间。

操作界面针对液晶检测场景优化，支持批量测量任务的预设与一键启动，测量数据可直接导出为显示行业通用格式，便于接入生产管理系统进行数据追溯与分析。

‌稳定适配洁净室环境‌

机身采用半导体洁净室适配的防尘防静电材质，配备温湿度补偿系统，可有效抵消洁净室内的微小环境波动，保障长时间检测的数据一致性。

具备抗振动干扰结构，能适应液晶生产线的轻度振动环境，确保检测数据的可靠性。

适用场景

‌液晶面板制造‌：在液晶面板制程中，用于检测液晶层间隙的均匀性，及时发现间隙偏差问题，保障液晶显示的画质稳定性，提升面板良率。

‌液晶显示科研实验‌：为新型液晶材料研究、先进液晶显示制程开发提供精准的间隙数据支撑，助力前沿显示技术的落地。

‌液晶面板质检‌：在液晶面板出厂质检环节，对成品面板的液晶层间隙进行抽检，确保产品符合显示规格要求。