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产品型号：nanoSAQLA
更新时间：2026-09-21
厂商性质：其他
访问量：7
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产品分类
Otsuka大塚 多样品纳米粒子径测试系统
Otsuka大塚 多样品纳米粒子径测试系统
非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚"测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。...
非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内
FPD：LCD、OLED、彩膜、偏光片、光学补偿膜（国内面板厂 20 年以上实绩）
半导体：光刻胶、氧化膜、TGV 玻璃通孔、CMP 浆料、晶圆薄膜
光学薄膜：硬化膜、离型膜、AR 防反膜涂布评价
新材料、高分子、医药、生命科学
nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学
测量示例
不同溶剂的5个样品连续测量
水210.6nm 酒精 286.2nm 甲苯360.4nm 甲基-乙基甲酮 488.4nm 乙氰 4811.7nm
温度梯度机能使用的测定
牛凝蛋白(BSA)粒径对温度的依赖性
* 支持可逆试验
可对应宽泛粒径的范围的测量
【微粒】硫胺素0.6nm的粒径评价
* 较旧机型感度提升
