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OTSUKA大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统
产品简介:

OTSUKA大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统ELSZ series的最机型,除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位(Zeta Potential,ζ-电位)和粒径测定之外,还能进行分子量测定的装置。作为新的功能,为了粒度分布的分离能力,采用了多角度测定。另外,也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。 全新的zeta电位平板固体样品池,通过新开发的对应高盐浓度的

产品型号:ELSZneo

更新时间:2026-09-21

厂商性质:其他

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产品介绍

OTSUKA大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统
OTSUKA大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统
ELSZ series机型,除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位(Zeta Potential,ζ-电位)和粒径测定之外,还能进行分子量测定的装置。作为新的功能,为了提高粒度分布的分离能力,采用了多角度测定。另外,也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。 全新的zeta电位平板固体样品池,通过新开发的对应高盐浓度的涂层,可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中,从而扩大了生命科学领域的可能性。 在0~90℃的宽温度范围内,可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。
OTSUKA大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统

Zeta电位

● 粒径

● 分子量

● 粒子浓度

● 微流变学测量

● 凝胶网络结构分析
OTSUKA大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统


参数

测量原理粒径动态光散射法(光子相关法)
ZETA电位电泳光散射法(激光多普勒法)
分子量静态光散射法
粒径零差光学系统
光学系统ZETA电位外差光学
分子量零差光学系统
光源高功率半导体激光器
探测器高灵敏度APD
样品池单元ZETA电位:标准池 微量一次性池或浓缩池
粒度/分子量:方形池
温度0~90℃(带温度梯度功能)
电源220V ± 10% 250VA
尺寸(WDH)330(W)×565(D)×245(H)
重量22Kg


测量


ZETA电位

No effective limitations(无有效上限)

电气移动度

-2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s

粒径

0.6nm ~ 10um

分子量

340 ~ 2×10*7


● 对应范围


测量温度范围

0~90℃

测量浓度范围

粒径:0.00001%(0.1ppm)~40%*1


*1(标准粒子: 0.00001 ~ 10%、胆汁酸: ~ 40%)m


标准样品池


标准样品池套件

可测量粒子径与ZETA电位电位的样品池套件

OTSUKA大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统

粒径测量套件

可测量粒径的样品池套件,可使用市面上的四角样品槽

OTSUKA大塚ZETA电位·粒径·分子量测试系统

粒径多角度样品池套件

通过3个角度测量粒径和分子量的样品池套件

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