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产品型号：MINUK
更新时间：2026-09-21
厂商性质：其他
访问量：9
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产品分类
otsuka大塚光波动场三次元显微镜
大塚电子 Otsuka MINUK｜光波动场三维显微镜（3D Optical Wave Field Microscope）
全息波前相位成像原理，专门解决透明 / 半透明样品内部纳米级缺陷检测，普通激光共聚焦 / 白光干涉很难检出的透明异物、层间气泡、光刻胶划痕都可以成像，无需染色、无需机械对焦
otsuka大塚光波动场三次元显微镜
MINUK的研发思路
以往显微镜的课题
视野狭窄，异物等目标的定位耗时较长
无法判断需要观察部位的深度，必须连续拍摄多张图像才能完成定位
无法检测到肉眼不可见的纳米级细微变化
而MINUK！
仅需放置，即可实现非破坏、非接触式 3D 观测技术
无需物理调焦
随时对需要观察部位进行观测·测量！
对象物在激光照射下，由于厚度和折射率的变化波面会发生变化。
将此变化以波面传感器捕捉，使用的软件进行数值解析，重新生成图像。
特点
特点1
凭借宽视野（ 700μm）与高分辨率 （488nm） ，在测量对象中搜寻异物中无需耗费精力。
以往，由于视野范围狭窄，在查找异物等目标位置时，不得扫描被测对象的全域。
MINUK 无需通过成像光学系统，可直接记录样品光，从根本上解决了透镜的像差问题，实现大深度、宽视野、无像差的成像效果。
特点2
可捕捉深度 1400μm 的全域信息，支持任意高度切片观测1次测量即可获取相当于数千张图像的信息量
以往，无论需要观测的位置在哪里，都需要持续拍摄数千张图像才能定位目标区域。而 MINUK 可瞬时完成 700×700μm 平面范围、1400μm 深度方向的信息采集。设备以约 2μm 的轴向分辨率生成约 700 张切片图像，通过对这些数据进行数字重聚焦处理，即可对样品三维结构开展追加验证分析。
特点3
将透过率和折射率的三维分布可视化，将肉眼无法看到的纳米级表面形状数值化
以往传统设备难以完成对焦操作，无法实现数据量化分析。而MINUK可对人眼不可见的纳米级表面形貌进行定量测量，还能检测微小的折射率变化。
