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  • SF-3/200系列Otsuka大塚晶圆薄膜测厚仪
    SF-3/200系列Otsuka大塚晶圆薄膜测厚仪

    产品型号

    SF-3/200系列

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-01-07

    浏览次数

    217

    产品描述

    Otsuka大塚 多通道光谱仪高机型MCPD-9800为瞬间多通道分光器MCPD系列的高级机型,与本公司以往的机型相比,实现了宽动态范围、低杂散光功能、以及高速、高再现性。适于高精度紫外定量评估、量子效率测量、在线测量为首的所有高精度测光系统。分光测量的世界得到进一步扩展。
  • SF-3/800半导体Otsuka大塚 圆薄膜测厚仪
    SF-3/800半导体Otsuka大塚 圆薄膜测厚仪

    产品型号

    SF-3/800半导体

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-01-07

    浏览次数

    301

    产品描述

    Otsuka大塚 圆薄膜测厚仪Otsuka大塚 多通道光谱仪MCPD-9800为瞬间多通道分光器MCPD系列的高级机型,与本公司以往的机型相比,实现了宽动态范围、低杂散光功能、以及更高速、更高再现性。适于高精度紫外定量评估、量子效率测量、在线测量为首的所有高精度测光系统。分光测量的世界得到进一步扩展。
  • SF-3/300Otsuka大塚圆薄膜测厚仪
    SF-3/300Otsuka大塚圆薄膜测厚仪

    产品型号

    SF-3/300

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-01-07

    浏览次数

    257

    产品描述

    Otsuka大塚圆薄膜测厚仪Otsuka大塚多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法(DLS法)测量粒径(粒径0.6nm~10um)的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统,实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。
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