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OPTM-A1厂商性质
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日本进口Otsuka大塚膜厚仪显微分光 ● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。
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nanoSAQLA厂商性质
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Otsuka大塚膜厚仪纳米粒子径测试系统 nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。...
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nanoSAQLA AS50厂商性质
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Otsuka大塚膜厚仪多样品nano粒子径测量系统 Otsuka大塚的nanoSAQLA AS50是专为纳米级样品设计的膜厚仪与粒径测量系统，主要用于精准检测薄膜厚度及纳米颗粒粒径
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ELSZneo厂商性质
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Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位分子量测试系统 是一款集ZETA电位、粒径与分子量测量于一体的纳米分析系统，专为胶体与界面科学、生物医药、材料研发等高精度研究场景设计，支持多参数同步表征。
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ELSEneoSE厂商性质
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日本Otsuka大塚膜厚仪ZETA电位粒径测试系统 ELSZneoSE是一款专为胶体与界面科学研究设计的高精度分析仪器，支持粒子径、ZETA电位的连续测量，适用于生物医药、材料科学、半导体及化妆品等领域。
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