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产品型号
SF-3/200 -
厂商性质
其他 -
更新时间
2026-05-20 -
浏览次数
168
产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
13915577898
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产品分类
产品型号
SF-3/200厂商性质
其他更新时间
2026-05-20浏览次数
168产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品型号
OPTM-H3厂商性质
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2026-05-20浏览次数
176产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪显微微分光嵌入型 利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
产品型号
OPTM-H2厂商性质
其他更新时间
2026-05-20浏览次数
191产品描述
国内代理Otsuka大塚膜厚仪嵌入型显微微分光 利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
产品型号
OPTM-H1厂商性质
其他更新时间
2026-05-20浏览次数
213产品描述
日本Otsuka大塚膜厚仪嵌入型显微微分光 利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点，在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
产品型号
OPTM-A3厂商性质
其他更新时间
2026-05-20浏览次数
184产品描述
日本Otsuka大塚膜厚仪显微分光新型高精度 ● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。...