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产品型号
Smart -
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其他 -
更新时间
2026-05-21 -
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产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪智能测量仪 智能膜厚测量仪具备以下特点： ● 可随身携带至生产现场的手持式设计 ● 操作简便，新人也能轻松上手 ● 虽为手持设备却可实现高精度测量 ● 支持对三维样品进行无损检测
13915577898
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产品分类
产品型号
Smart厂商性质
其他更新时间
2026-05-21浏览次数
223产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪智能测量仪 智能膜厚测量仪具备以下特点： ● 可随身携带至生产现场的手持式设计 ● 操作简便，新人也能轻松上手 ● 虽为手持设备却可实现高精度测量 ● 支持对三维样品进行无损检测
产品型号
SF-3/1300厂商性质
其他更新时间
2026-05-21浏览次数
202产品描述
国内代理Otsuka大塚膜厚仪晶圆分光干涉式 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品型号
SF-3/800厂商性质
其他更新时间
2026-05-21浏览次数
188产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪晶圆分光干涉式 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品型号
SF-3/300厂商性质
其他更新时间
2026-05-21浏览次数
180产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品型号
SF-3/300厂商性质
其他更新时间
2026-05-20浏览次数
189产品描述
日本进口Otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...