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产品型号
ELSZneo厂商性质
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2026-05-18浏览次数
68产品描述
Otsuka大塚膜厚仪粒径分子量测试系统 【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。
产品型号
nanoSAQLA厂商性质
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69产品描述
Otsuka大塚膜厚仪多样品纳米粒子径测试系统 nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。
产品型号
MINUK厂商性质
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2026-05-18浏览次数
75产品描述
Otsuka大塚膜厚仪光波动场三次元显微镜 日本Otsuka大塚的膜厚仪光波动场三次元显微镜是一款融合膜厚测量与三维形貌观测的精密仪器 大塚电子（OTSUKA ELECTRONICS）是日本精密仪器品牌，在薄膜测量、工业传感器领域拥有深厚的技术积累，产品以高精度、高可靠性著称，广泛服务于全球工业制造、科研实验、质检检测等领域。
产品型号
Smart厂商性质
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2026-05-18浏览次数
82产品描述
日本进口Otsuka大塚手持膜厚仪 大塚电子（OTSUKA ELECTRONICS）是日本精密仪器品牌，在薄膜测量、工业传感器领域拥有深厚的技术积累，产品以高精度、高可靠性著称，广泛服务于全球工业制造、科研实验、质检检测等领域。
产品型号
LabRAM Odyssey厂商性质
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2026-04-11浏览次数
162产品描述
HORIBA堀场光致发光和拉曼晶圆成像 HORIBA（堀场）光致发光（PL）与拉曼晶圆成像系统是专为半导体材料与器件研发、工艺监控及质量控制设计的分析工具，融合了光致发光（Photoluminescence, PL）和拉曼光谱（Raman Spectroscopy）两大非接触、无损检测技术。
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