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  • ELSZneoOtsuka大塚膜厚仪粒径分子量测试系统
    ELSZneoOtsuka大塚膜厚仪粒径分子量测试系统

    产品型号

    ELSZneo

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-18

    浏览次数

    39

    产品描述

    Otsuka大塚膜厚仪粒径分子量测试系统 【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型,除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位(Zeta Potential,ζ-电位)和粒径测定之外,还能进行分子量测定的装置。作为新的功能,为了提高粒度分布的分离能力,采用了多角度测定。另外,也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。
  • nanoSAQLAOtsuka大塚膜厚仪多样品纳米粒子径测试系统
    nanoSAQLAOtsuka大塚膜厚仪多样品纳米粒子径测试系统

    产品型号

    nanoSAQLA

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-18

    浏览次数

    39

    产品描述

    Otsuka大塚膜厚仪多样品纳米粒子径测试系统 nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法(DLS法)测量粒径(粒径0.6nm~10um)的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统,实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外,这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。
  • MINUKOtsuka大塚膜厚仪光波动场三次元显微镜
    MINUKOtsuka大塚膜厚仪光波动场三次元显微镜

    产品型号

    MINUK

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-18

    浏览次数

    43

    产品描述

    Otsuka大塚膜厚仪光波动场三次元显微镜 日本Otsuka大塚的膜厚仪光波动场三次元显微镜是一款融合膜厚测量与三维形貌观测的精密仪器 大塚电子(OTSUKA ELECTRONICS)是日本精密仪器品牌,在薄膜测量、工业传感器领域拥有深厚的技术积累,产品以高精度、高可靠性著称,广泛服务于全球工业制造、科研实验、质检检测等领域。
  • Smart日本进口Otsuka大塚手持膜厚仪
    Smart日本进口Otsuka大塚手持膜厚仪

    产品型号

    Smart

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2026-05-18

    浏览次数

    38

    产品描述

    日本进口Otsuka大塚手持膜厚仪 大塚电子(OTSUKA ELECTRONICS)是日本精密仪器品牌,在薄膜测量、工业传感器领域拥有深厚的技术积累,产品以高精度、高可靠性著称,广泛服务于全球工业制造、科研实验、质检检测等领域。
  • OPTM seriesOtsuka大塚显微分光膜厚仪
    OPTM seriesOtsuka大塚显微分光膜厚仪

    产品型号

    OPTM series

    厂商性质

    代理商

    更新时间

    2025-10-17

    浏览次数

    257

    产品描述

    Otsuka大塚显微分光膜厚仪易操作适用于各种可透光膜层的测试,并有可针对透明基板去除背面反射,从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外,软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。
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