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产品型号
SF-3 -
厂商性质
其他 -
更新时间
2026-05-18 -
浏览次数
147
产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆膜厚仪 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
13915577898
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产品分类
产品型号
SF-3厂商性质
其他更新时间
2026-05-18浏览次数
147产品描述
Otsuka大塚膜厚仪分光干涉式晶圆膜厚仪 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检测再现性 可进行高速...
产品型号
MCPD-9800厂商性质
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2026-05-18浏览次数
169产品描述
日本进口Otsuka大塚膜厚仪多通道光谱仪 产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以最高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出适合的方案。 不同评价方法对应不同设备 ◎...
产品型号
OPTM series厂商性质
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2026-05-18浏览次数
168产品描述
Otsuka大塚膜厚仪显微分光膜厚仪 ● 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程。...
产品型号
ELSZneo厂商性质
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2026-05-18浏览次数
150产品描述
Otsuka大塚膜厚仪粒径分子量测试系统 【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。
产品型号
nanoSAQLA厂商性质
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2026-05-18浏览次数
148产品描述
Otsuka大塚膜厚仪多样品纳米粒子径测试系统 nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。