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产品型号
TFW-100型 （3） -
厂商性质
代理商 -
更新时间
2025-06-21 -
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产品描述
LAMBDA低成本光谱膜厚测量设备拉姆达膜厚仪 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
产品分类
产品型号
TFW-100型 （3）厂商性质
代理商更新时间
2025-06-21浏览次数
171产品描述
LAMBDA低成本光谱膜厚测量设备拉姆达膜厚仪 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
产品型号
TFW-100（2）厂商性质
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2025-06-21浏览次数
76产品描述
LAMBDA拉姆达lambda工业分光膜厚测量仪 分光膜厚测量 TFW-100（1）/（2）/（3） 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
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TFW-100厂商性质
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2025-06-21浏览次数
100产品描述
LAMBDA拉姆达日本光谱膜厚仪分光膜厚测量 分光膜厚测量 TFW-100（1）/（2）/（3） 这是工业领域的低成本光谱膜厚测量设备。 由于它是非接触式和非破坏性的，因此可以在短时间内轻松测量而不会损坏样品。 它广泛用于研发和在线质量控制中的膜厚测量。 以低廉的价格实现了高精度和高稳定性。
产品型号
LVmicro-Z厂商性质
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2025-06-21浏览次数
83产品描述
LAMBDA拉曼膜厚仪拉姆达lambda显微光谱学 它是工业领域显微光谱学的行业标准！ 近年来，在各个领域的微器件的制造和开发中，出现了对小规模光谱测量的需求。 我们提出了 2 μm 显微镜范围内的高精度、高稳定性的显微光谱测量技术。
产品型号
ML200厂商性质
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2025-06-21浏览次数
90产品描述
LAMBDA拉姆达lambda日本高出力分光光源ML200/300 它是一种单色产光光谱源，具有高分辨率、低杂散光和高功率，结合了双光谱仪和 500W 氙灯。 它是各种激发光源的理想选择！